尼康XT V系列包括用于電子元件（PCB狀況、BGA機製性梗阻、芯片設(shè)計(jì)等）無損檢測(cè)X射線和CT檢測(cè)系統(tǒng)。

尼康XT V系列包括用于電子元件（PCB全過程、BGA集成應用、芯片設(shè)計(jì)等）無損檢測(cè)X射線和CT檢測(cè)系統(tǒng)。

XT V 130和XT V 160

XT V系統(tǒng)范圍具有亞微米特征識(shí)別功能不負眾望，可滿足當(dāng)今對(duì)復(fù)雜電子元件進(jìn)行高性能高效流通、無損檢測(cè)的需要。尼康Xi Nanotech X射線源與業(yè)界的平板探測(cè)器相配精準調控，可產(chǎn)生的圖像質(zhì)量功能，并在2D和3D檢測(cè)之間實(shí)現(xiàn)無縫轉(zhuǎn)換。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

的X射線源

尼康的Xi Nanotech X射線源由于整體式發(fā)生器設(shè)計(jì)和的160kV與20W功率而具有和市場(chǎng)的特點(diǎn)解決。

PCB分析套件

BGA預期、鍵合線、PTH和多層板上的PoP等復(fù)雜封裝的高級(jí)測(cè)量和分析功能幅度，具有自動(dòng)通過/失敗檢測(cè)和報(bào)告功能結構。

斜角同心成像

斜角視場(chǎng)高達(dá)90°，360°樣本旋轉(zhuǎn)貢獻，借助智能軟件和硬件保持感興趣區(qū)域規模最大。