FormtracerSV-C3200/4500525系列－表面粗糙度和輪廓測量系統(tǒng)機臺特點：表面粗糙度測量功能●高分辨力型Z1軸檢出器作為標準件提供

Formtracer SV-C3200/4500

525系列－表面粗糙度和輪廓測量系統(tǒng)

機臺特點：

表面粗糙度測量功能

●高分辨力型Z1軸檢出器作為標準件提供指導。

  Z1軸的顯示分辨力為0.0001μm（測量范圍為8μm時）。

●X軸內置高精度玻璃光柵尺國際要求，直接讀取X軸移動距離流動性，

  在高精度精準定位下，完成間距參數(shù)的評價行業內卷。

●檢出器測力有4mNt 0.75mN可選追求卓越。

  輪廓測量功能

●Z1軸（檢出器）上配有高精度弧形光柵尺和新型測臂。高精度弧形光柵尺能直接讀

  取測針的弧形軌跡參與能力，以實現(xiàn)高精度和高分辨力合理需求。與傳統(tǒng)型號相比，新測臂使Z1軸測

  量范圍增大了10mm同時減少了工件的干擾充分發揮。測臂安裝部采用了磁性鏈接件高質量，單此

  接觸就能完成測臂的裝卸，提高了易用性選擇適用。

●專為CV-4500系列增加了以下兩大特性：

  (1)裝配雙面測針管理，實現(xiàn)垂直方向（上/下）連續(xù)測量，

  所獲取的數(shù)據(jù)實現(xiàn)簡單分析以往難以測量的內螺紋有效直徑薄弱點。

  (2)測力可在FORMTRACEPAKL軟件中設置覆蓋範圍。無需調整配重位置。

●的表面粗糙度/輪廓FORMTRACEPAK分析程序積極性，

  通過簡單的操作就能進行高級分析并即刻輸出結果奮勇向前。

●表面粗糙度測試儀和輪廓測量儀結合在一起，節(jié)省安裝空間實施體系。