ZEISS METROTOM 1的CT技術(shù)便捷取得顯著成效，用戶僅需一次掃描即可有效完成復(fù)雜的測量與檢測任務(wù)新模式，從而對接觸式和光學(xué)測量系統(tǒng)無法檢測到的隱蔽的缺陷與內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行測量實現、分析及檢測。
ZEISS METROTOM 1 優(yōu)勢
1組織了、看到很小的細(xì)節(jié)
得益于高解析度的6MP平板探測器
得益于高分辨率的6MP平板探測器 以高分辨率顯現(xiàn)甚至很小的細(xì)節(jié)服務體系。 直徑為150mm的物體可以以65 µm體素大 小進(jìn)行重建。
2搶抓機遇、減少維護(hù)
封閉式微焦點(diǎn)X光管
封閉式微焦點(diǎn)X光管 在封閉的發(fā)射管內(nèi)問題，在制造過程中產(chǎn)生的真空會持續(xù)到X光管的整個(gè)使用壽命，因此不需要維護(hù)全會精神。
3系統穩定性、靈巧設(shè)計(jì)
小巧靈活
小巧靈活 總空間需求小于1.6平方米，因此可以非常靈活地放置集中展示。不必為系統(tǒng)后面實力增強，上方和右側(cè)的服務(wù)提供額外的空間。
4探索創新、檢測中小型零件
高度或直徑達(dá)165mm以內(nèi)的塑料組件皆可以輕松進(jìn)行掃描和測量帶來全新智能。。
5新產品、操作便捷
輕觸一個(gè)按鈕即可進(jìn)行掃描和分析
CT的簡化設(shè)置使得操作非常簡單去完善，而操作員的影響卻很小。 這幾乎沒有差錯(cuò)的余地長遠所需，因此對操作人員的培訓(xùn)也很少求索。
6、由GOM Volume Inspect支持的強(qiáng)大解決方案
配備的GOM Volume Inspect軟件具備創(chuàng)新的3D體積渲染和所有剖面的3D可視化紮實做。借助GOM Volume Inspect空間廣闊，您可洞悉部件內(nèi)部，分析幾何形狀提供深度撮合服務、孔隙或內(nèi)部結(jié)構(gòu)以及裝配情況服務品質。直觀操作、高性能：CT數(shù)據(jù)分析從未如此簡單組成部分！
ZEISS METROTOM 1 應(yīng)用
對于中小型塑料零件與小型輕金屬零件影響，可以實(shí)現(xiàn)缺陷檢驗(yàn)、尺寸誤差彩圖比對與全尺寸量測的過程中。
METROTOM全系列
