X射線熒光分析測厚儀能提供：鍍層厚度和元素分析功能,不但性能,而且

X射線熒光分析測厚儀能提供：鍍層厚度和元素分析功能,不但性能,而且。分析鍍層厚度和元素成份同時進行經過，只需數(shù)秒鐘便能非破壞性地得到準(zhǔn)確的測量結(jié)果簡單化，多層鍍層的厚度測量也一樣能勝任。輕巧的樣品室明確了方向，適合不同大小的樣品系統性，功能實用，準(zhǔn)確性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的首要選擇單產提升。

Cube系列可測量各類金屬傳遞、合金單層及多層的鍍層厚度、電鍍液中金屬離子的含量和合金元素成份及含量勞動精神。

ACZET系列X射線熒光分析測厚儀特點：

ACZET系列X射線鍍層測厚儀是基于X射線熒光技術(shù)開展攻關合作，該技術(shù)已經(jīng)被證實并且得到廣泛應(yīng)用，可以在無須樣品制備的情況下提供易于操作保供、快速和無損的分析自行開發。它能分析固體和液體，元素范a圍包括從元素周期表中的Ti22到U92責任，并且具有不同大小的樣品艙應用情況。

產(chǎn)品功能：

1. 采用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層保護好、覆蓋層厚度，測量方法滿足GB/T 16921-2005標(biāo)準(zhǔn)（等同ISO3497：2000表現、 ASTM B568和DIN50987）特點。

1. 鍍層元素范圍：鈦～鈾，包含常見的金結論、鎳和諧共生、銅、銀適應性強、錫技術交流、鋅、鉻拓展、鈀等創造更多。

2. 鍍層層數(shù)：多至5層。

3. 測量點尺寸：圓形測量點相關，直徑約0.2-0.8毫米大力發展。

4. 測量時間：通常35秒-180秒。

5. 樣品尺寸：330 x 200 x 170 mm (長x寬x高)生產效率。

6. 測量誤差：通常小于5%產能提升，視樣品具體情況而定。

7. 可測厚度范圍：通常0.01微米到30微米節點，視樣品組成和鍍層結(jié)構(gòu)而定通過活化。

8. 同時定量測量8個元素。

9. 定性鑒定材料達(dá)20個元素支撐作用。

產(chǎn)品參數(shù)：

· X射線光管 微聚焦研學體驗，高性能，鎢靶最為突出，焦斑尺寸0.2-0.8mm

· 高電壓 50千伏（1.2毫安）可根據(jù)軟件控制優(yōu)化

· 探測器 高分辨氣體正比計數(shù)探測器

· 準(zhǔn)直器 單一固定準(zhǔn)直器直徑0.3mm

· 樣品倉 330 x 200 x 170 mm

· 樣品臺 手動Z軸樣品臺

· 電源 230VAC, 50/60Hz, 120W / 100W

· 儀器尺寸 350 x 420 x 310 mm

1.操作簡單落實落細，只需要很少的培訓(xùn)就可以操作

2.檢測速度快，無損檢測只需幾秒鐘

3.可測試單層及多層鍍層的厚度

4.可以測試電鍍液中金屬離子含量

5.對測試樣品無損

6.市場上的高性價比

7.自動化批量檢測：可選配XYZ全自動工作臺

8.應(yīng)用行業(yè)廣泛：電子高效化，珠寶製高點項目，金屬加工等等