可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱

一利用好、設(shè)備用途：

可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱的作用是提供高溫深入各系統、低溫、恒溫系列、恒濕規定、交變濕熱等試驗(yàn)環(huán)境環境，并滿足相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)試驗(yàn)箱的要求，主要適用于電工高質量、電子產(chǎn)品整機(jī)及零部件進(jìn)行耐寒試驗(yàn)、溫濕度變化或劇變條件下的適應(yīng)性試驗(yàn);特別適用于進(jìn)行電子重要組成部分、電工產(chǎn)品的環(huán)境模擬溫濕度試驗(yàn)流程。

二、特點(diǎn)

可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱系統(tǒng)利用的環(huán)境模式技術(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì)和制造勃勃生機，產(chǎn)品達(dá)到水平助力各業。采用能量調(diào)節(jié)技術(shù)、節(jié)能設(shè)計(jì)提供有力支撐、密封性好應用、高強(qiáng)度、易清洗品率，符合國(guó)際審美觀的標(biāo)準(zhǔn)化整體式結(jié)構(gòu)箱體;具有操作簡(jiǎn)便相貫通、控制系統(tǒng)自動(dòng)化程度高、系統(tǒng)運(yùn)行穩(wěn)定積極影響、運(yùn)行時(shí)間長(zhǎng)等優(yōu)點(diǎn)自動化方案。

三、主要型號(hào)尺寸及技術(shù)參數(shù)：

四越來越重要、滿足標(biāo)準(zhǔn)：

GB 10589-2008 《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
GB 11158-2008 《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
GB 10592-2008 《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
GB2423.1-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法》
GB2423.2-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法》
GB2423.4-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db:交變?cè)囼?yàn)方法》
GB2424.1-2005 《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則》
GB2423.22-2008《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法》
GB/T5170.2-2008 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備》
GB2423.3－2008試驗(yàn)C《恒定濕熱試驗(yàn)方法》;
GB2423.4－93試驗(yàn)D《交變濕熱試驗(yàn)方法》