數(shù)字化正電子湮沒壽命譜儀可以用來研究晶體材料的缺陷與空位讓人糾結，可以通過測量材料的正電子湮沒體壽命和缺陷壽命來鑒別和判斷材料中缺陷與空位的類型規模，可以通過測量材料中不同壽命成分的比例變化來推斷材料中缺陷濃度的變化趨勢。
數(shù)字化正電子湮沒壽命譜儀也可以用來研究非晶體材料的內(nèi)部信息基石之一，可以通過測量壽命計算材料中自由體積的大小與分布聯動、可以識別材料中特定的空位與缺陷、 可以對材料中的孔隙密度和大小分布進行描述共同努力。
正電子湮沒壽命譜儀可以適用于多種材料形態(tài)行業內卷，包括塊材、粉末逐漸完善、薄膜都可以很好的進行測量參與能力；正電子湮沒壽命譜儀可以適用于多種材料類型，包括金屬與合金是目前主流、氧化物充分發揮、半導(dǎo)體、高分子聚合物充分發揮、多孔材料選擇適用、納米材料等等；正電子湮沒壽命譜儀可以進行多種目的的研究設計，包括單不限于對于不同退火溫度業務指導、不同摻雜濃度下材料的物性變化，材料的相變過程優化程度、材料隨時間的變化等等積極性。
正電子湮沒壽命測量技術(shù)在不同領(lǐng)域都有著應(yīng)用：
半導(dǎo)體材料：正電子湮沒壽命測量在半導(dǎo)體材料中的應(yīng)用廣泛。它可以用于研究晶體缺陷不斷豐富、陷阱和表面缺陷等實施體系，幫助優(yōu)化半導(dǎo)體器件的性能。
金屬材料：正電子湮沒壽命測量在金屬材料研究中也有重要應(yīng)用創新的技術。它可以用于研究金屬中的晶格缺陷發揮、空位、雜質(zhì)和析出相等，有助于了解金屬的力學(xué)性能和耐蝕性能開放以來。
晶體材料：正電子湮沒壽命測量可用于研究晶體材料的缺陷和缺陷相關(guān)的性質(zhì)占。例如，它可以用于研究晶體中的位錯提供了有力支撐、孿晶和晶界等激發創作。
非晶態(tài)材料：正電子湮沒壽命測量可以應(yīng)用于非晶態(tài)或無定形材料的研究。這些材料通常缺乏長程有序的晶體結(jié)構(gòu)進一步意見，而正電子湮沒壽命測量可以幫助了解這些材料中的缺陷和局部結(jié)構(gòu)增幅最大。
高分子材料：在高分子材料中，正電子湮沒壽命測量可以用于研究材料中的自由體積和分子動力學(xué)等特性生產能力。
生物材料：正電子湮沒壽命測量在生物材料研究中也有應(yīng)用標準。例如，它可以用于研究蛋白質(zhì)堅持好、多肽和生物大分子的結(jié)構(gòu)和動態(tài)行為即將展開。
