同軸 TKD 具有的性能----空間分辨率（低探頭電流要求）

電子顯微鏡分析儀QUANTAX EBSD系統(tǒng)與廣受歡迎的OPTIMUS TKD探頭相結(jié)合探討，是用于分析SEM中納米材料的晶體學(xué)解決方案不負眾望。

一、亮點(diǎn)

1）1.5nm------有效的空間分辨率

的同軸 TKD 提供的樣品-探測(cè)器幾何構(gòu)型調解製度，從而實(shí)現(xiàn)的性能

2）2nA------測(cè)試所需的電流

同軸 TKD 可實(shí)現(xiàn)低探頭電流測(cè)試精準調控，且不影響測(cè)試速度和數(shù)據(jù)質(zhì)量

3）125,000Pps------超快獲取 FSE、BSE 和 STEM 圖像

的ARGUS成像系統(tǒng)可在幾秒鐘內(nèi)實(shí)現(xiàn)高對(duì)比度和低噪聲成像

4）具有的空間分辨率的納米材料取向分布圖

QUANTAX EBSD 系統(tǒng)加上廣受歡迎的 OPTIMUS TKD 探測(cè)器應用的因素之一，是分析 SEM 中納米材料的解決方案解決。原因如下：

       a）提供 1.5 nm 的空間分辨率

       b）在不影響速度和/或數(shù)據(jù)質(zhì)量的情況下以低測(cè)試電流進(jìn)行測(cè)試

       c）在使用浸入式透鏡模式的超高分辨 SEM 下工作的 TKD 解決方案

       d）全自動(dòng)內(nèi)置 ARGUS 成像系統(tǒng)

二、優(yōu)勢(shì)

同軸 TKD的優(yōu)勢(shì)

    a）實(shí)現(xiàn)空間分辨率

    b）SEM 中獲取取向分布圖和物相分布圖

    c）用于快速測(cè)試善於監督，同時(shí)不影響數(shù)據(jù)質(zhì)量/完整性

   d）以令人難以置信的速度集成技術，通過(guò)全自動(dòng)信號(hào)優(yōu)化，以出色的對(duì)比度和分辨率拍攝 STEM 圖像

   e）可使用低電流分析束流敏感材料更合理。

三適應能力、相關(guān)圖片