高性能X射線熒光分析儀
產(chǎn)品描述:
美國博曼(Bowman)Bowman BA-100 Optics 臺式X射線熒光(XRF)鍍層測厚儀——為您提供高精度尤為突出、快速簡便的鍍層厚度測量規定、元素分析,以及電鍍液分析空間載體。
Bowman BA-100 Optics 機型采用業(yè)界的多孔毛細管光學聚焦裝置高質量,有效縮小測量點斑點的同時,可數(shù)倍乃至數(shù)十倍提高X射線激發(fā)強度重要組成部分。
Bowman BA-100 Optics 機型配備大面積的SDD(硅漂移探測器)流程,有效拓展元素分析范圍,適應(yīng)的微區(qū)特點、超薄鍍層深刻變革,以及痕量元素分析需求。
優(yōu)秀的測試性能慢體驗、突出的微區(qū)測量能力著力增加,Bowman BA-100 Optics機型是研究開發(fā)、質(zhì)量管控的XRF鍍層厚度及元素成分分析儀器科技實力。
穩(wěn)定的X射線管
多毛細管聚焦光學結(jié)構(gòu)
應(yīng)用領(lǐng)域:
PCB行業(yè)
Au/Pd/Ni/Cu/PCB
Ag/Cu
Au/Pd/Ni/CuFe
Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材
Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材
Sn/Cu
10,14,18Kt