閃爍體的光譜適應性、壽命節點、成像、光產(chǎn)額測(cè)量
產(chǎn)品概述
近年來(lái)落地生根,鈣鈦礦型閃爍體及鈣鈦礦型X射線直接探測(cè)器被廣泛研究及報(bào)道的特點。在發(fā)光閃爍體層面,鈣鈦礦納米晶閃爍體通過(guò)溶液即可制得有效保障,成本極低大數據,且具備全色彩可調(diào)諧輻射發(fā)光的特點(diǎn)。在直接探測(cè)層面講實踐,鉛鹵鈣鈦礦材料因其具備較大的原子序數(shù)數字技術、高吸收系數(shù)等優(yōu)點(diǎn),在X射線直接探測(cè)領(lǐng)域同樣表現(xiàn)出非常優(yōu)異的性能市場開拓。
卓立漢光能夠提供基于X射線的穩(wěn)態(tài)發(fā)光光譜措施,熒光壽命,瞬態(tài)光譜以及X射線探測(cè)成像的相關(guān)測(cè)量方案新模式。能夠提供全套涵蓋X射線激發(fā)源實現、光譜儀、穩(wěn)態(tài)及瞬態(tài)數(shù)據(jù)處理組織了、成像測(cè)量(CMOS成像服務體系,單像素成像說服力,TFT面陣成像)、輻射劑量表分析、輻射安全防護(hù)等表示,輻射防護(hù)防護(hù)滿足國(guó)標(biāo)《低能射線裝置放射防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)》(GBZ115-2023)。
如下陳述我們幾種測(cè)量方案及相關(guān)配置明細(xì)
(一) 穩(wěn)態(tài)光譜及熒光壽命采集
• 基于皮秒X射線和TCSPC測(cè)量原理的方法
• 納秒脈沖X射線
• 穩(wěn)態(tài)和壽命測(cè)量數(shù)據(jù)
(二)X射線探測(cè)成像
• X射線探測(cè)成像光路圖
• X射線探測(cè)成像及脈沖X射線實(shí)現(xiàn)光電流衰減測(cè)量
• TFT集成的面陣X射線成像
• 成像測(cè)量結(jié)果
(三)技術(shù)參數(shù)
穩(wěn)態(tài)光譜及熒光壽命采集

基于皮秒X射線和TCSPC測(cè)量原理的方法
包含:皮秒脈沖激光器非常激烈、光激發(fā)X射線管拓展基地、TCSPC或條紋相機(jī)。
由皮秒脈沖激光器激發(fā)“光激發(fā)X射線管”發(fā)射出X-ray作用于樣品上實力增強,樣品發(fā)射熒光體系流動性,經(jīng)光譜儀分光之后,由探測(cè)器探測(cè)光信號(hào)帶來全新智能,數(shù)據(jù)采集器讀取數(shù)據(jù)實現了超越。

皮秒X射線測(cè)量熒光壽命原理圖
納秒脈沖X射線

150KV納秒脈沖X射線

*安全距離要求:a:3米,b:6米去完善,c:30米
穩(wěn)態(tài)和壽命測(cè)量數(shù)據(jù)

NaI 樣品在管電壓50KeV橋梁作用,不同管電流激發(fā)下的輻射發(fā)光光譜

納秒X 射線激發(fā)的熒光衰減曲線

X射線探測(cè)成像
X射線探測(cè)成像光路圖

X射線探測(cè)成像及脈沖X射線實(shí)現(xiàn)光電流衰減測(cè)量

TFT集成的面陣X射線成像

TFT傳感芯片規(guī)格

TFT讀取系統(tǒng)規(guī)格
成像測(cè)量結(jié)果

CMOS 成像實(shí)物圖

分辨率指標(biāo):TYP39分辨率卡的X 射線圖像。測(cè)試1mm厚的YAG(Ce)時(shí)求索,分辨率可以優(yōu)于20lp/mm

手機(jī)充電頭成像測(cè)試

密碼狗成像測(cè)試
光產(chǎn)額測(cè)量方案
閃爍晶體的光產(chǎn)額(也稱為光輸出或光子產(chǎn)額)是指晶體在受到電離輻射(如γ射線讓人糾結、X射線或粒子)激發(fā)后,發(fā)射光子(通常是可見光)的數(shù)量穩定發展。光產(chǎn)額通常以每單位能量沉積產(chǎn)生的光子數(shù)來(lái)表示基石之一,單位可以是光子/MeV。
光產(chǎn)額是衡量閃爍晶體性能的重要參數(shù)之一增持能力,它是衡量閃爍體材料性能的重要指標(biāo)之一共同努力,也直接關(guān)系到該材料在實(shí)際應(yīng)用中的靈敏度和效率。常見的閃爍晶體包括碘*鈉(NaI)追求卓越,碘化銫(CsI)逐漸完善,和氧化鑭摻鈰(LaBr3)等。不同的晶體材料會(huì)有不同的光產(chǎn)額合理需求,這取決于其發(fā)光機(jī)制是目前主流、能帶結(jié)構(gòu)、以及材料的純度和缺陷等因素發力。研究閃爍體材料的光產(chǎn)額對(duì)于提高其性能優勢領先、拓展其應(yīng)用具有重要的意義。
一些常見閃爍晶體的光產(chǎn)額值如下:
碘*鈉(NaI(Tl)):約38,000 photons/MeV
氯化銫(CsI(Tl)):約54,000 photons/MeV
氧化鈰摻雜的氧化鑭(LaBr3):約63,000 photons/MeV
釔鋁石榴石摻雜鈰離子(YAG:Ce):約14,000 photons/MeV
光產(chǎn)額越高持續創新,意味著該晶體能夠在相同的能量沉積條件下產(chǎn)生更多的光子改善,從而在探測(cè)器中生成更強(qiáng)的信號(hào),通常也會(huì)導(dǎo)致更好的能量分辨率協調機製。
卓立漢光提供一整套包含同位素源信息化、屏蔽鉛箱(被測(cè)器件及光路)形勢、光電倍增管、高壓電源取得明顯成效、閃爍體前置放大器約定管轄、譜放大器、多道分析儀及測(cè)試軟件創新的技術,實(shí)現(xiàn)閃爍體的光產(chǎn)額測(cè)量發揮。

