XT-50沖擊試樣缺口投影儀性能說明

XT-50沖擊試樣缺口投影儀是根據(jù)GB/T229-94《金屬夏比缺口沖擊試驗(yàn)方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計(jì)逐步改善、開發(fā)的一種專用于檢查比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器意見征詢，該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上，與投影屏上沖擊試樣V和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對大大提高，以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格的必然要求，其優(yōu)點(diǎn)是操作簡便，檢查對比直觀取得了一定進展，效率高完善好。