◆特點(diǎn):
·Micro OLED在線光學(xué)測(cè)試系統(tǒng)認為，3inch以下;
·自動(dòng)運(yùn)動(dòng)控制;
·產(chǎn)品上下料，自動(dòng)對(duì)位新趨勢，自動(dòng)壓接反應能力、自動(dòng)測(cè)試;
·采用快速多功能夾具，支持多種型號(hào)產(chǎn)品學習，快速切換;
·多儀器搭載有所提升，支持AOI&光學(xué)OTP;
·支持不同溫度點(diǎn)gamma調(diào)整聽得進，燒錄;
·自動(dòng)分類，區(qū)分不同等級(jí)良品與不良品以及匹配度先進水平。
| 項(xiàng)目 | 規(guī)格 |
| 尺寸 | 長(zhǎng)*寬*高: 5.35m *5.24m *2.29m |
| 測(cè)試樣品大小 | 0.39inch~3inch |
| 彩色分析儀 | CA402,探頭測(cè)量?徑約2 mm.探頭采用專用的光學(xué)系統(tǒng)與算法,確保在超
低亮度與小尺寸測(cè)量的條件下仍可準(zhǔn)確測(cè)量 |
| 相機(jī) | 1便利性、AOI相機(jī)4300萬(wàn),高分辨率CCD。
2重要平臺、AVI相機(jī)AV1--500 萬(wàn)相機(jī)( 2432 x2050 ),Y方向視野25mm |
| 運(yùn)動(dòng)系統(tǒng) | 采用高精度伺服電機(jī),高精度滾珠螺桿 |
| 功能 | 色度深刻認識、亮度、均勻性應用提升、主動性、光譜測(cè)試等
支持:點(diǎn)線、面缺陷測(cè)試, mura測(cè)試 |
| 信號(hào) | 支持特儀自制信號(hào)機(jī)以及市面通用品牌信號(hào)機(jī),支持客制化信號(hào),信號(hào)格式:
TTL/LVDS/MIPI/HDMI/edp/2K&4K&8K等 |
| 電源 | 支持高精度多路直流電源輸出,以及客制化電源需求 |
| 軟件 | 特儀自主開發(fā)之軟件,全中文版,C#編程模塊化, 操作簡(jiǎn)單,UI界面可依據(jù)
客戶需求進(jìn)行定制,軟件自帶各標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試手法,可以通過直接調(diào)用模式進(jìn)行測(cè)
試 |
