一脫穎而出、XT-50/CST-50沖擊試樣缺口投影儀概述

隨著國內(nèi)工業(yè)技術(shù)的發(fā)展拓展應用，越來越多的行業(yè)已經(jīng)開始執(zhí)行《金屬夏比沖擊試驗(yàn)方法》該標(biāo)準(zhǔn)對試樣要求相當(dāng)嚴(yán)格，所以在整個試驗(yàn)過程中結構，試樣的加工是否合格會直接影響最終的試驗(yàn)結(jié)果管理。如果試樣加工質(zhì)量不合格，那么其試驗(yàn)結(jié)果是不可信的能力建設，特別是試樣缺口的微小變化可能會引起試驗(yàn)結(jié)果的巨大陡跳模樣，尤其是在試驗(yàn)的臨界值時，會引起產(chǎn)品的合格或報廢兩種截然相反的不同結(jié)局建立和完善。為保證試樣缺口的合格提供了遵循，其質(zhì)量檢驗(yàn)是一個重要的控制手段參與水平，目前，用光學(xué)投影放大檢驗(yàn)是切實(shí)可行的方法服務效率。

XT-50型沖擊試樣投影儀是我公司根據(jù)廣大用戶的實(shí)際需要和GB/T299-2020《金屬夏比沖擊試驗(yàn)方法》中對沖擊試樣缺口的要求而開發(fā)的一種專用于檢驗(yàn)夏比V型和U性型缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器明確相關要求，該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V型和U型缺口輪廓放大50倍后投射到投影屏上，與投影屏上的沖擊試樣V型和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖對比統籌發展，以確定被檢測的試樣缺口是否合格深化涉外。其優(yōu)點(diǎn)是操作簡便，對比直觀生產製造。

二開展試點、工作原理：

本投影儀光源發(fā)出的光線經(jīng)聚光鏡照射到被測物體，再經(jīng)物鏡將被照射物體放大的輪廓投射到投影屏上共同。

根據(jù)需要推進一步，本儀器為單一投射照明，光源通過一系列光學(xué)元件投射在工作臺上簡單化，再通過一系列光學(xué)元件將被測試樣缺口輪廓清晰的投射到投影儀上力度。物體經(jīng)二次放大和二次反射成正像，在投影屏上所看到的圖形與實(shí)際試樣放置的方位一致設計。