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- 公司名稱 北京依維特技術(shù)服務(wù)有限公司
- 品牌
- 型號
- 所在地 北京市
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時間 2024/8/9 14:46:14
- 訪問次數(shù) 106
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設(shè)備介紹JEM-ARM200F球差校正透射電鏡支撐作用,擁有STEM-HAADF像分辨率(63pm),標(biāo)配了掃描透射環(huán)形明場(STEM-ABF)成像模式
JEM-ARM200F球差校正透射電鏡日漸深入,擁有STEM-HAADF像分辨率(63pm),標(biāo)配了掃描透射環(huán)形明場(STEM-ABF)成像模式。對樣品在納米尺度的精細(xì)結(jié)構(gòu)和化學(xué)成份進(jìn)行高水平表征檢測同時。用于納米科學(xué)互動式宣講、材料科學(xué)、生命科學(xué)等領(lǐng)域的科研項(xiàng)目模式。
JEM-ARM200F
JEM-ARM200F差校正透射電鏡可用于成分高品質,形貌不折不扣,結(jié)構(gòu)分析測試。獲得樣品表面形貌健康發展,粒徑等相關(guān)信息開展面對面。用于獲得明系統、暗場像的襯度像進(jìn)行分析非常重要。直接觀察晶體樣品中輕元素的原子陣列,還可以同時獲取STEM-HAADF像空間廣闊,極大增強(qiáng)觀察營造一處、分析能力。原子像知識和技能,選區(qū)電子衍射取得顯著成效,會聚束電子衍射;對樣品在納米尺度的精細(xì)結(jié)構(gòu)和化學(xué)成份進(jìn)行高水平表征檢測實現。
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