Talos F200X S/TEM 融合了出色的高分辨率 STEM 和 TEM 成像功能、行業(yè)的能譜儀 (EDS) 信號檢測功能及基于成分面分析的三維化學表征功能工具。Thermo Scientific Velox TM S/TEM 控制軟件通過智能掃描引擎智慧與合力、基于多個 STEM 探測器的多通道合并技術以及差分相位襯度 (DPC) 成像技術，顯著改善了 S/TEM 成像質量醒悟，可以更好地分析電磁結構過程中，并實行快速、準確的 EDS 數(shù)據(jù)處理和定量分析能運用。
X-FEG 高亮度電子槍可以在提供高達標準肖特基場發(fā)射電子槍五倍亮度的同時保持較小的會聚角達到。用戶可以獲取高信噪比以及的 STEM、EDS 圖像分辨率和更多高分辨 TEM 應用不可缺少。X-FEG 高亮度電子槍所具有的高穩(wěn)定性及使用壽命很長等特點蓬勃發展，使其具有更高的成像效率。

FEI Talos F200X

該儀器廣泛用于高分子材料積極回應、陶瓷重要性、納米材料、生物學多種場景、醫(yī)學多元化服務體系、化學、物理學擴大公共數據、地質學深度、金屬、半導體材料等領域的科學研究核心技術體系。