四探針方阻電阻率測試儀本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料之電導(dǎo)率適應能力。液晶顯示更優美，無需人工計算，并帶有溫度補償功能防控，電導(dǎo)率單位自動選擇成效與經驗，BCD-310 材料電導(dǎo)率測試儀自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置堅實基礎。選配：配備軟件可以由電腦操控稍有不慎，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成圖表和報表行動力。

四探針方阻電阻率測試儀四探針方阻電阻率測試儀

本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法提供有力支撐，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校保供、科研部門自行開發，是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料責任。液晶顯示品質，無需人工計算，并帶有溫度補償功能深入各系統，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程系列，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置作用。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理著力增加、質(zhì)量輕便智能化，運輸安全、使用方便處理；選配：配備軟件可以由電腦操控建設，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表助力各行；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示前來體驗，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率確定性、方阻更加廣闊、溫度、單位換算講故事、溫度系數(shù)非常完善、電流、電壓全面革新、探針形狀作用、探針間距、厚度 行業分類、電導(dǎo)率最為突出，壓強 配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.

雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量講道理。

標(biāo)準(zhǔn)要求：

該儀器設(shè)計符合單晶硅物理測試方法發展目標奮鬥。利用電流探針、電壓探針的變換更多的合作機會，進行兩次電測量延伸，對數(shù)據(jù)進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸服務好、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響新趨勢，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高精確度共謀發展，特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試學習。

技術(shù)參數(shù)及功能介紹

1.雙電測四探針法測試薄層樣品方阻計算和測試原理如下：

直線四探針測試布局如圖8充分，相鄰針距分別為S1、S2集聚、S3,根據(jù)物理基礎(chǔ)和電學(xué)原理：

當(dāng)電流通過1競爭力、4探針，2哪些領域、3探針測試電壓時計算如下：

四探針測試結(jié)構(gòu)

當(dāng)電流通過1敢於挑戰、2探針，4建立和完善、3探針測試電壓時計算如下：從以上計算公式可以看出：方阻RS只取決于R1和R2提供了遵循，與探針間距無關(guān)．針距相等與否對RS的結(jié)果無任何影響，本公司所生產(chǎn)之探針頭全部采用等距大型，偏差微小服務效率，對測試結(jié)果更加精準(zhǔn)。