| qp-fast | 10 | 統(tǒng)一質(zhì)量SPM探針,三個矩形懸臂,軟/標(biāo)準(zhǔn)/快速/動態(tài)AFM分別成像,
檢測面鍍金 |
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| qp-HBC | 10 | 鍍層: 懸臂背面鍍鋁； 針尖形狀: 角錐形; 懸臂梁: 頻率 60 kHz 力常數(shù) 0.5 N/m 長度 115 μm; 應(yīng)用范圍：智能探針 |
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| qp-BioT | 10 | qp-BioT探針有兩個三角懸臂梁面向，懸臂梁: 力常數(shù) 0.08 N/m 0.3 N/m; 應(yīng)用范圍：生物探針支撐作用、液體探針；優(yōu)勢：力常數(shù)和共振頻率波動范圍小，特別適用于的定量納米力學(xué)研究和生物測試 |
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| qp-BioAC | 10 | qp-BioAC探針三個懸臂梁最為突出，懸臂梁: 力常數(shù) 0.06 N/m 0.1 N/m 0.3 N/m; 應(yīng)用范圍：生物探針落實落細、液體探針；優(yōu)勢：力常數(shù)和共振頻率波動范圍小高效化，特別適用于的定量納米力學(xué)研究和生物測試 |
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| qp-BioAC-CI | 10 | qp-BioAC-CI探針三個懸臂梁製高點項目，懸臂梁: 力常數(shù) 0.06 N/m 0.1 N/m 0.3 N/m; 應(yīng)用范圍：生物探針,細(xì)胞探針；優(yōu)勢：力常數(shù)和共振頻率波動范圍小範圍和領域，特別適用于的定量納米力學(xué)研究和細(xì)胞測試 |
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| PtSi-NCH | 10 | 新導(dǎo)電探針有所增加，鍍層: 鉑硅； 比常規(guī)導(dǎo)電探針更耐磨更高要求，電學(xué)信號更長久越來越重要的位置，重復(fù)性好、分辨率高共同學習。應(yīng)用范圍：導(dǎo)電探針 |
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| ATEC-NC | 10 | 輕敲探針順滑地配合，鍍層: 無； 針尖可視的探針效高，可應(yīng)用到對于那些針尖需要被精確定位或必須針尖可見的應(yīng)用（例如前沿技術，用于納米操作）來說，ATEC是必然的性能。由于其很小的半錐角多種方式，ATEC系列產(chǎn)品在陡峭的小尺寸圖案樣品測量中表現(xiàn)出很好的性能。 |
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| ATEC-NCPt | 10 | 導(dǎo)電探針新創新即將到來，鍍層: 鉑銥邁出了重要的一步； 針尖可視的探針，可應(yīng)用到對于那些針尖需要被精確定位或必須針尖可見的應(yīng)用（例如設施，用于納米操作）來說需求，ATEC是必然的。由于其很小的半錐角組合運用，ATEC系列產(chǎn)品在陡峭的小尺寸圖案樣品測量中表現(xiàn)出很好的性能更讓我明白了。 |
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| PPP-NCH | 10 | 輕敲探針，鍍層: 無脫穎而出； 其小于7納米的典型半徑和很小的探針個體差異提高了圖像的分辨率并保證了圖像的可重復(fù)性拓展應用。 |
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| PPP-NCH-W | 380 |
| PPP-NCHR | 15 | 輕敲探針，鍍層: 懸臂背面鍍鋁結構； 其小于7納米的典型半徑和很小的探針個體差異提高了圖像的分辨率并保證了圖像的可重復(fù)性管理。 |
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| PPP-NCHR-W | 380 |
| PPP-NCHPt | 10 | 導(dǎo)電探針，鍍層: 鉑銥能力建設； 其小于25納米的典型半徑和很小的探針個體差異提高了圖像的分辨率并保證了圖像的可重復(fù)性模樣。 |
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| PPP-NCHPt-W | 380 |
| ATEC-NCAu | 10 | 導(dǎo)電探針生產體系，鍍層: 金； 針尖可視的探針很重要，可應(yīng)用到對于那些針尖需要被精確定位或必須針尖可見的應(yīng)用（例如能力和水平，用于納米操作）來說，ATEC是必然的異常狀況。由于其很小的半錐角研究，ATEC系列產(chǎn)品在陡峭的小尺寸圖案樣品測量中表現(xiàn)出很好的性能。 |
| PPP-NCHAu | 10 | 導(dǎo)電探針應用創新，鍍層: 金提高； 其小于25納米的典型半徑和很小的探針個體差異提高了圖像的分辨率并保證了圖像的可重復(fù)性。 |
| PPP-NCHAuD | 10 | 導(dǎo)電探針的特性，鍍層: 金開展試點； 其小于25納米的典型半徑和很小的探針個體差異提高了圖像的分辨率并保證了圖像的可重復(fù)性。 |
| PPP-XYNCHR | 10 | 輕敲探針共同，鍍層: 懸臂背面鍍金； 此探針具有杰出的運(yùn)行穩(wěn)定性經過，優(yōu)異的靈敏度以及快速掃描能力簡單化。 |
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| PPP-QNCHR | 10 | 輕敲探針，鍍層: 懸臂背面鍍鋁明確了方向； 其小于7納米的典型半徑和很小的探針個體差異提高了圖像的分辨率并保證了圖像的可重復(fù)性系統性。 |
| PPP-RT-NCHR | 10 | 輕敲探針，鍍層: 懸臂背面鍍鋁單產提升； 其小于7納米的典型半徑和很小的探針個體差異提高了圖像的分辨率并保證了圖像的可重復(fù)性傳遞。 |
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| PL2-NCH-10 | 10 | 輕敲探針，鍍層: 無勞動精神；應(yīng)用:Plateau AFM Tips |
| PL2-NCHR-10 | 10 | 輕敲探針開展攻關合作，鍍層: 懸臂背面鍍鋁；應(yīng)用:Plateau AFM Tips |
| TL-NCH | 10 | tipless探針動手能力，鍍層: 無逐步改善； |
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| SSS-NCH | 10 | 尖探針，鍍層: 無提升； 針尖形狀: 懸臂梁: 頻率 330 kHz 力常數(shù) 42 N/m 長度 125 μm; 應(yīng)用范圍：輕敲探針 |
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| SSS-NCHR | 10 | 尖探針大大提高，鍍層: 懸臂背面鍍鋁； 針尖形狀: 懸臂梁: 頻率 330 kHz 力常數(shù) 42 N/m 長度 125 μm; 應(yīng)用范圍：輕敲探針 |
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| AR5-NCH | 10 | HIGH ASPECT RATIO Probe,silicon cantilever for non-contact-/tapping-mode, HIGH ASPECT RATIO tip,aspect ratio ≥5:1 |
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| AR5-NCH-W | 370 |
| AR5T-NCH | 10 | TILT COMPENSATED HIGH ASPECT RATIO Probe, silicon cantilever for non-contact-/tapping-mode, HIGH ASPECT RATIO tip,aspect ratio ≥5:1,tilt compensation 13° |
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| AR5T-NCH-W | 365 |
| AR10-NCH | 10 | HIGH ASPECT RATIO Probe,silicon cantilever for non-contact-/tapping-mode, HIGH ASPECT RATIO tip,aspect ratio ≥10:1 |
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| AR10-NCH-W | 370 |
| AR10T-NCH | 10 | TILT COMPENSATED HIGH ASPECT RATIO Probe, silicon cantilever for non-contact-/tapping-mode, HIGH ASPECT RATIO tip,aspect ratio ≥10:1, tilt compensation 13° |
| 20 |
| 50 |
| AR10T-NCH-W | 365 |
| AR5-NCHR | 10 | HIGH ASPECT RATIO Probe,silicon cantilever for non-contact-/tapping-mode, HIGH ASPECT RATIO tip,aspect ratio ≥5:1, detector side :Al-coating |
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| AR5-NCHR-W | 370 |
| AR5T-NCHR | 10 | TILT COMPENSATED HIGH ASPECT RATIO Probe, silicon cantilever for non-contact-/tapping-mode, HIGH ASPECT RATIO tip,aspect ratio ≥5:1,tilt compensation 13°detector side: Al-coating |
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| AR5T-NCHR-W | 365 |
| AR10-NCHR | 10 | HIGH ASPECT RATIO Probe,silicon cantilever for non-contact-/tapping-mode, HIGH ASPECT RATIO tip,aspect ratio ≥10:1 detector side :Al-coating |
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| AR10-NCHR-W | 370 |
| AR10T-NCHR | 10 | TILT COMPENSATED HIGH ASPECT RATIO Probe, silicon cantilever for non-contact-/tapping-mode, HIGH ASPECT RATIO tip,aspect ratio ≥10:1, tilt compensation 13°detector side: Al-coating |
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| AR10T-NCHR-W | 365 |
| DT-NCHR | 10 | DIAMOND COATED Probe, silicon cantilever for non-contact-/tapping-mode, detector side: Al-coating |
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| CDT-NCHR | 10 | CONDUCTIVE DIAMOND COATED Probe, silicon cantilever for non-contact-/tapping-mode, detector side: Al-coating |
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| PPP-NCST | 10 | 輕敲探針研究成果，鍍層: 無取得了一定進展，針尖形狀: 錐形; 懸臂梁: 頻率 160 kHz 力常數(shù) 7.4 N/m 長度 150 μm; 應(yīng)用范圍：軟輕敲探針 |
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| PPP-NCST-W | 380 |
| PPP-NCSTR | 10 | 輕敲探針，鍍層: 懸臂背面鍍鋁大面積； 針尖形狀: 錐形; 懸臂梁: 頻率 160 kHz 力常數(shù) 7.4 N/m 長度 150 μm; 應(yīng)用范圍：軟輕敲探針 |
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| PPP-NCSTR-W | 380 |
| PPP-NCSTPt | 10 | 導(dǎo)電探針積極參與，鍍層: 鉑銥問題分析； |
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| PPP-NCSTPt-w | 380 |
| PPP-NCSTAu | 10 | Silicon cantilever for non-contact-/tapping -mode,soft tapping, detector and tip side : Au-coating |
| PPP-NCSTAuD | 10 | Silicon cantilever for non-contact-/tapping -mode,soft tapping, detector and tip side : Au-coating |
| PPP-XYNCSTR | 10 | Silicon cantilever for non-contact-/tapping -mode,soft tapping, detector and tip side : Al-coating,XY-auto aligment |
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| PPP-NCL | 10 | Silicon cantilever for non-contact -/tapping -mode, long cantilever |
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| PPP-NCL-W | 380 |
| PPP-NCLR | 10 | Silicon cantilever for non-contact -/tapping -mode, long cantilever, detector side : Al-coating |
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| PPP-NCLR-W | 380 |
| PPP-NCLPt | 10 | Silicon cantilever for non-contact -/tapping -mode, long cantilever, detector side : Pt/Ir-coating, tip side : Pt/Ir-coating |
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| PPP-NCLPt-W | 380 |
| PPP-NCLAu | 10 | Silicon cantilever for non-contact -/tapping -mode, long cantilever, detector and tip side : Au-coating |
| PPP-NCLAuD | 10 | Silicon cantilever for non-contact -/tapping -mode, long cantilever, detector side : Au-coating |
| PL2-NCL | 10 | Silicon-SPM-Probe with plateau tip, silicon cantilever for non-contact-/tapping -mode,long cantilever |
| PL2-NCLR | 10 | Silicon-SPM-Probe with plateau tip, silicon cantilever for non-contact-/tapping -mode,long cantilever, detector side: Al-coating |
| TL-NCL | 10 | Tipless silicon cantilever based on POINTPROBE technology |
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| SSS-NCL | 10 | 尖探針，鍍層: 無技術； 針尖形狀: 懸臂梁: 頻率 190 kHz 力常數(shù) 48 N/m 長度 225 μm; 應(yīng)用范圍：輕敲探針 |
| 20 |
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| SSS-NCLR | 10 | 尖探針推廣開來，鍍層: 懸臂背面鍍鋁； 針尖形狀: 懸臂梁: 頻率 190 kHz 力常數(shù) 48 N/m 長度 225 μm; 應(yīng)用范圍：輕敲探針 |
| 20 |
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| AR5-NCL | 10 | 高長徑比探針相對較高，鍍層: 無資源配置； 針尖形狀: 高長徑比; 懸臂梁: 頻率 190 kHz 力常數(shù) 48 N/m 長度 225 μm; 應(yīng)用范圍：高長徑比探針 |
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| AR5-NCL-W | 370 |
| AR5-NCLR | 10 | 高長徑比探針，鍍層: 懸臂背面鍍鋁相關； 針尖形狀: 高長徑比; 懸臂梁: 頻率 190 kHz 力常數(shù) 48 N/m 長度 225 μm; 應(yīng)用范圍：高長徑比探針 |
| 20 |
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| AR5-NCLR-W | 370 |
| DT-NCLR | 10 | 金剛石探針大力發展，高長徑比探針，硅懸臂非接觸式- /敲擊模式生產效率，鍍層: 懸臂背面鍍鋁 |
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| CDT-NCLR | 10 | 導(dǎo)電金剛石探針產能提升，高長徑比探針，硅懸臂非接觸式- /敲擊模式節點，鍍層: 懸臂背面鍍鋁 |
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| A-Probe | 10 | AKiyama-Probe, self-sensing and self-actuating(-exciting) probe for dynamic mode AFM |
| PPP-SEIH | 10 | Silicon cantilever for non-contact/tapping -mode,special type A. |
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| PPP-SEIH-W | 380 |
| PPP-SEIHR | 10 | Silicon cantilever for non-contact/tapping -mode,special type A, detector side : Al-coating |
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| PPP-SEIHR-W | 380 |
