超高分辨率的單峰、多峰和多顆粒分散體系粒度的分布

優(yōu)異的顆粒分級(jí)

計(jì)數(shù)效率高（高頻數(shù)字化前來體驗、脈沖分析和分級(jí)）

寬泛的動(dòng)態(tài)范圍（可測(cè)量40 nm到8µm的粒徑）自主研發，無(wú)需切換范圍或改變組件

檢測(cè)時(shí)間短

易于操作

樣品量少

嵌入式觸屏和基于服務(wù)器/瀏覽器的軟件

通過(guò)參考粒子進(jìn)行單點(diǎn)校準(zhǔn)

單粒子光散射技術(shù)（SPLS）記錄通過(guò)單個(gè)納米粒子和微米粒子散射到不同方向的光，同時(shí)通過(guò)非球形橫截面的聚焦激光束更加廣闊。

通過(guò)在光學(xué)流通池中進(jìn)行流體動(dòng)力聚焦損耗，將單個(gè)粒子排列成一條直線。這樣不斷發展，通過(guò)壓力差產(chǎn)生了中間的樣品流和周?chē)那柿鞣e極影響。鞘流為樣品流?chuàng)造了一種流體壁自動化方案，并防止了機(jī)械阻塞緊密協作。樣品流的橫截面可以動(dòng)態(tài)調(diào)整（因數(shù)35），而無(wú)需改變機(jī)械部件線上線下。因此發揮重要作用，可以容易地將流動(dòng)條件調(diào)整為樣品濃度，從而避免濃度峰值的影響數據顯示。

當(dāng)單個(gè)粒子穿過(guò)激光束時(shí)高質量，光會(huì)在所有方向上散射。通過(guò)兩個(gè)PMT同時(shí)記錄光的前向和側(cè)向散射記得牢，并在放大和數(shù)字化后進(jìn)行實(shí)時(shí)分析註入了新的力量。為每個(gè)粒子計(jì)算的散射光強(qiáng)度最多可分類(lèi)為4.2x106通道重要的作用，并以高分辨率條形圖顯示，在易于使用的觸摸屏上顯示計(jì)數(shù)分布去創新。根據(jù)米氏理論足夠的實力，將分類(lèi)強(qiáng)度轉(zhuǎn)換為粒度分布密度。測(cè)量學習，數(shù)據(jù)存儲(chǔ)和分析由軟件平臺(tái)SEPView®提供支持結構重塑。

可以同時(shí)確定每個(gè)確定的尺寸分?jǐn)?shù)的顆粒濃度是一個(gè)很大的優(yōu)勢(shì)。 SPLS技術(shù)使您可以深入了解復(fù)雜的納米和亞微米顆粒系統(tǒng)應用優勢，從而幫助您設(shè)計(jì)定制的顆粒和分散體高質量發展。