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奧林巴斯清潔度檢測(cè)系統(tǒng)

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型號(hào):CIX100。奧林巴斯CIX100檢測(cè)系統(tǒng)是一個(gè)專門的交鑰匙解決方案措施,適用于對(duì)所制造部件清潔度保持高質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)要求的制造商⌒履J??焖佾@取實現、處理和記錄技術(shù)清潔度檢測(cè)數(shù)據(jù),以符合公司和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的要求組織了。該系統(tǒng)直觀的軟件可指導(dǎo)用戶完成該過(guò)程的每個(gè)步驟,因此,即使是新手操作員廣泛認同,也可以快速輕松地獲取清潔度數(shù)據(jù)高質量。

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奧林巴斯CIX100檢測(cè)系統(tǒng):簡(jiǎn)化技術(shù)清潔度


保證部件、工件和流體具有合格的清潔度是制造過(guò)程的核心所在全面闡釋。在對(duì)大多為微米級(jí)尺寸的污染物和異物進(jìn)行計(jì)數(shù)非常激烈、分析和分類的過(guò)程中達(dá)到高標(biāo)準(zhǔn),對(duì)于*終產(chǎn)品的開發(fā)引人註目、制造領域、生產(chǎn)和質(zhì)量控制等各種工作流程都至關(guān)重要溝通機製。各種國(guó)際和國(guó)家指令對(duì)于如何確定基本加工零件上顆粒污染的方法和記錄要求都有描述,因?yàn)轭w粒污染會(huì)直接影響工件和部件的使用壽命註入新的動力。目前的標(biāo)準(zhǔn)要求提供有關(guān)污染性質(zhì)的詳細(xì)信息領先水平,如顆粒的數(shù)量、粒度分布和顆粒特性雙重提升。
奧林巴斯CIX100清潔度檢測(cè)系統(tǒng)旨在滿足現(xiàn)代工業(yè)以及國(guó)家和國(guó)際指令對(duì)清潔度的要求戰略布局。


標(biāo)準(zhǔn)的清潔度檢測(cè)流程:準(zhǔn)備(第1-3步)和檢測(cè)(第4-6步)。第1步:提取表現明顯更佳,第2步:過(guò)濾狀態,第3步:稱重,第4步:檢測(cè)穩定發展,第5步:審核基石之一,第6步:結(jié)果。


                                               



簡(jiǎn)單增持能力、可靠


硬件和軟件無(wú)縫集成共同努力,打造出一款可以提供可靠、準(zhǔn)確數(shù)據(jù)的耐用型高效率系統(tǒng)追求卓越。
· 易于設(shè)置的自動(dòng)化逐漸完善、交鑰匙解決方案
· 穩(wěn)定的測(cè)量系統(tǒng)設(shè)置有利于提供可重復(fù)的結(jié)果
· 的光學(xué)性能和可再現(xiàn)的成像條件
· 自動(dòng)化系統(tǒng)通過(guò)集成的校準(zhǔn)裝置進(jìn)行自檢
· 全系統(tǒng)集成,實(shí)現(xiàn)所有硬件部件的自動(dòng)化控制
· 支持各種圓形和矩形樣品架



     


通過(guò)直觀的指導(dǎo)提高生產(chǎn)力


· 專用合理需求、簡(jiǎn)單的工作流程可*大限度地減少用戶操作是目前主流,并提供可靠的數(shù)據(jù) - 與操作員和經(jīng)驗(yàn)水平無(wú)關(guān)
· 借助便于使用的工具輕松修改檢測(cè)數(shù)據(jù)
· 分步指導(dǎo)可提高生產(chǎn)率,并縮短檢測(cè)時(shí)間
· 用戶權(quán)限管理可限制功能發力,以盡量減少人為錯(cuò)誤
· 觸摸屏顯示大尺寸按鈕優勢領先,容易點(diǎn)擊
· 符合要求的一鍵式報(bào)告,實(shí)現(xiàn)高效的文件記錄
· 所有數(shù)據(jù)均自動(dòng)保存共創美好,并可輕松導(dǎo)出和共享
· 采用可選材料分析解決方案的獨(dú)立顯微鏡模式



快速實(shí)時(shí)分析


創(chuàng) 新的一體化掃描解決方案檢測(cè)反光(金屬)和非反光顆粒的速度是需要兩幅獨(dú)立圖像的傳統(tǒng)方法的兩倍推動並實現。即時(shí)反饋顆粒計(jì)數(shù)和顆粒分類的信息可幫助您快速做出決策。
· 用于快速識(shí)別濾膜范圍覆蓋範圍、顆粒簇或*差粒子的概覽圖像
· 對(duì)2.5 µm至42 mm范圍內(nèi)的污染物顆粒進(jìn)行自動(dòng)實(shí)時(shí)處理和分類
· 高效:系統(tǒng)在一次掃描中檢測(cè)反光和非反光顆粒
· 實(shí)時(shí)分析使您能對(duì)結(jié)果做出實(shí)時(shí)反應(yīng)
· 可根據(jù)選定的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)定制符合要求的結(jié)果


有效的數(shù)據(jù)評(píng)估


借助強(qiáng)大的優化程度、易于使用的工具修改檢測(cè)數(shù)據(jù),支持公司和國(guó)際清潔度檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)奮勇向前。清晰呈現(xiàn)所有相關(guān)的檢測(cè)結(jié)果不斷豐富,節(jié)省時(shí)間。
· 圖像和數(shù)據(jù)的有組織排列組建,使數(shù)據(jù)審核效率更高
· 可選擇各種視圖各有優勢,立即識(shí)別顆粒
· 顆粒位置和縮略圖鏈接到實(shí)時(shí)圖像
· 輕松地對(duì)檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行重新分類、審核、修改和重新計(jì)算
· 實(shí)時(shí)顯示整體清潔度代碼快速增長、顆粒和分類表
· 趨勢(shì)分析開放以來,以確定隨時(shí)間推移而出現(xiàn)的潛在的測(cè)量偏差
· 在一個(gè)視圖中顯示完整的檢測(cè)數(shù)據(jù)



創(chuàng)建合規(guī)報(bào)告

一鍵式報(bào)告制作方式符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)中闡述的要求和方法。報(bào)告可以定制(例如高質量,包括顆粒形態(tài))提供了有力支撐,從而可輕松滿足不同公司的特定標(biāo)準(zhǔn)。使用預(yù)定義的合規(guī)模板生成專業(yè)報(bào)告前景。
                  · 可輕松調(diào)整模板和報(bào)告進一步意見,以滿足行業(yè)和公司的規(guī)定
                  · 支持各種輸出格式,包括MS Word和PDF
                  · 報(bào)告文件大小經(jīng)過(guò)優(yōu)化共享應用,輕松進(jìn)行結(jié)果共享
                  · 長(zhǎng)期數(shù)據(jù)存儲(chǔ)生產能力,使您可以在多年后證明決策的合理性


硬件

顯微鏡 奧林巴斯CIX100 電動(dòng)聚焦
  • 同軸電動(dòng)精細(xì)聚焦,使用3軸操縱桿
  • 聚焦行程:25 mm
  • 精細(xì)行程:100 µm/周
  • 載物臺(tái)托架的*大安裝高度:40 mm
  • 聚焦速度:200 µm/s
  • 可啟用軟件自動(dòng)聚焦功能
  • 自定義的多點(diǎn)聚焦圖
照明
  • 內(nèi)置LED照明燈
  • 創(chuàng) 新型照明機(jī)制示範推廣,可同時(shí)探測(cè)到反光顆粒和非反光顆粒
  • 光照強(qiáng)度可由軟件控制
成像設(shè)備
  • 彩色CMOS USB 3.0攝像頭
  • 芯片上的像素尺寸為2.2 µm × 2.2 µm
樣品量
  • ? 標(biāo)準(zhǔn)樣品是一個(gè)直徑為47 mm的濾膜堅持好。可為直徑為25 mm或55 mm的濾膜提供托架大幅增加,還可提供定制樣品托架特性。
物鏡轉(zhuǎn)換器 電動(dòng)式 電動(dòng)物鏡轉(zhuǎn)換器
  • 6孔電動(dòng)物鏡轉(zhuǎn)盤,已安裝了3個(gè)UIS2物鏡
  • PLAPON 1.25X等特點,用于預(yù)覽
  • MPLFLN 5X的積極性,用于探測(cè)大于10 µm的顆粒
  • MPLFLN 10X,用于探測(cè)大于2.5 µm的顆粒
由軟件控制
  • 圖像放大倍率至關重要,以及像素與尺寸之間的關(guān)系可清晰顯示
  • 測(cè)量時(shí)可選定物鏡不久前,軟件可自動(dòng)進(jìn)行物鏡定位
載物臺(tái) 電動(dòng)X、Y軸載物臺(tái) 電動(dòng)X提升行動、Y軸載物臺(tái)
  • 步進(jìn)電機(jī)控制運(yùn)動(dòng)
  • *大范圍:130 × 79 mm
  • *大移動(dòng)速度:240 mm/s(4 mm滾珠螺距)
  • 可重復(fù)性:< 1 µm
  • 分辨率:0.01 µm
  • 可通過(guò)3軸操縱桿控制
由軟件控制
  • 掃描速度取決于所使用的放大倍率能力建設,使用10x放大倍率時(shí),掃描時(shí)間不到10分鐘
  • 載物臺(tái)對(duì)齊校準(zhǔn)由工廠在裝配時(shí)完成研究進展。
標(biāo)本架 樣品架
  • 濾膜托架經(jīng)過(guò)專門設(shè)計(jì)無障礙,可避免在安裝過(guò)程中濾膜發(fā)生意外轉(zhuǎn)動(dòng)
  • 濾膜托架通過(guò)機(jī)械方式將濾膜壓平
  • 無(wú)需工具即可固定蓋子
  • 用于直徑為25 mm、47 mm和55 mm的濾膜的樣品托架
  • 用于顆粒捕集器互動互補、顆粒捕集器耗材和膠帶提取法采樣的樣品托架
顆粒物標(biāo)準(zhǔn)片(PSD)
  • 用于驗(yàn)證系統(tǒng)測(cè)量準(zhǔn)確性的參考樣品
  • 核查系統(tǒng)內(nèi)置功能的樣品,用于對(duì)CIX系統(tǒng)的正常功能進(jìn)行控制
  • PSD只能使用載物臺(tái)上的第2個(gè)插槽
載物臺(tái)插槽 2位載物臺(tái)插槽
  • 載物臺(tái)插槽專用于正確定位樣品托架和PSD
控制器 工作站 高性能預(yù)安裝工作站
  • HP Z4G4意向,Windows 10-64位專業(yè)版(英文版)
  • 16 GB RAM意料之外、256 GB SSD和4 TB數(shù)據(jù)存儲(chǔ)
  • 2 GB視頻適配器
  • 已安裝Microsoft Office 2019(英文版)
  • 網(wǎng)絡(luò)功能、英文全鍵盤形式、1000 dpi的光電鼠標(biāo)
插件板
  • 電動(dòng)控制器置之不顧、RS232串行和USB 3.0
語(yǔ)言選擇
  • 操作系統(tǒng)和Microsoft Office的默認(rèn)語(yǔ)言可由用戶更改
觸摸顯示屏 23英寸纖薄屏幕
  • 分辨率:11920 × 1080,為配合CIX軟件使用而優(yōu)化
電源 額定值
  • AC適配器(2個(gè))、控制器和顯微鏡架(需要4個(gè)插頭)
  • 輸入:100-240V AC 50/60Hz方便,10 A
功耗
  • 控制器:700 W基礎上;顯示器:56 W;顯微鏡:5.8 W應用領域;控制盒:7.4 W
  • 總計(jì):769.2 W
圖紙 尺寸(寬 × 厚 × 高) 約1300 mm × 800 mm × 510 mm
重量 44 kg

系統(tǒng)對(duì)環(huán)境的要求

常規(guī)使用 溫度 10 °C ~ 35 °C
濕度 30% ~ 80%
根據(jù)安 全法規(guī) 環(huán)境 室內(nèi)使用
溫度 5 ℃至40 ℃
濕度
  • *大80%(溫度不高于31 °C時(shí))
    (無(wú)冷凝)
  • 當(dāng)溫度上升到31 °C以上時(shí)保持競爭優勢,適用的濕度會(huì)呈線性下降
  • 70%(34 °C)至60%(37 °C)至50%(40 °C)
海拔高度 *高2,000米
水平度 *高為±2°
電源和電壓穩(wěn)定性 ±10%
污染等級(jí)(IEC60664) 2
總體電壓類別(IEC60664) II類

軟件

軟件 CIX-ASW-V1.5
  • 技術(shù)清潔度檢測(cè)的專用工作流程軟件
語(yǔ)言 圖形用戶界面
  • 圖形用戶界面:英語(yǔ)、法語(yǔ)發展機遇、德語(yǔ)長效機製、西班牙語(yǔ)、日語(yǔ)全技術方案、簡(jiǎn)體中文和韓語(yǔ)
在線幫助
  • 在線幫助:英語(yǔ)分享、法語(yǔ)、德語(yǔ)信息化、西班牙語(yǔ)方式之一、日語(yǔ)、簡(jiǎn)體中文和韓語(yǔ)
許可證管理
  • 軟件許可證通過(guò)許可證卡片激活(安裝時(shí)已激活)
用戶管理
  • 系統(tǒng)可以連接到網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行域管理
  • 可用功能范圍根據(jù)經(jīng)過(guò)身份驗(yàn)證的用戶而選擇趨勢。
實(shí)時(shí)圖像 以彩色模式顯示
  • 金屬顆粒用藍(lán)色分析有力扭轉,非金屬顆粒用原色分析。
窗口適應(yīng)法
  • 圖像總是以全視圖形式顯示
實(shí)時(shí)探測(cè)
  • 顆粒一經(jīng)捕獲就會(huì)探測(cè)出來(lái)設備製造,以提高速度
  • 如果測(cè)量結(jié)果不理想發展需要,用戶可以中止探測(cè)過(guò)程。
實(shí)時(shí)分類
  • 探測(cè)到顆粒后管理,立即對(duì)顆粒進(jìn)行分類顯示。
  • 在實(shí)時(shí)采集過(guò)程中,可在用戶界面上識(shí)別顆粒所屬的大小等級(jí)效率和安。
顯微鏡模式
  • 可以進(jìn)入顯微鏡模式進(jìn)行顯微成像設計能力。
  • 提供可選配的材料分析解決方案(不是標(biāo)配)。
圖像捕獲和手動(dòng)測(cè)量 收集用戶快照
  • 不僅可在實(shí)時(shí)觀察模式下(從實(shí)時(shí)圖像)或樣品查看模式下(從記錄的數(shù)據(jù))捕獲圖像深入開展,也可以在審核模式下更為一致,捕獲樣品上任何位置的單個(gè)圖像
  • 可使用1000 × 1000像素的標(biāo)準(zhǔn)分辨率,將圖像存儲(chǔ)為.tif技術的開發、.jpg或.png文件
  • 快照可以與探測(cè)到的顆粒相關(guān)聯(lián)研究與應用,并在之后的分析報(bào)告中使用
  • 顆粒快照可以在景深擴(kuò)展成像(EFI)模式下自動(dòng)獲取
  • 在EFI模式下獲取的圖像可用在分析報(bào)告中
手動(dòng)測(cè)量
  • 可以在獲得的快照上對(duì)任意距離進(jìn)行測(cè)量
  • 可為任意測(cè)量項(xiàng)目重新命名更高效,可以對(duì)顏色進(jìn)行重新著色
  • 任意測(cè)量值和刻度線在存儲(chǔ)時(shí)都會(huì)被刻錄在圖像中
硬件控制 XY電動(dòng)載物臺(tái)
  • 操縱桿操作和由軟件控制
  • 檢測(cè)圓形和矩形的樣品區(qū)域
  • 在所選顆粒上以自動(dòng)或手動(dòng)方式重新定位
電動(dòng)物鏡轉(zhuǎn)換器
  • 僅可通過(guò)軟件選擇
電動(dòng)聚焦
  • 通過(guò)操縱桿控制
  • 提供軟件自動(dòng)聚焦功能
  • 使用多點(diǎn)聚焦圖進(jìn)行預(yù)測(cè)性自動(dòng)對(duì)焦
檢查系統(tǒng) 系統(tǒng)驗(yàn)證
  • 通過(guò)測(cè)量顆粒物標(biāo)準(zhǔn)片的參數(shù)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行驗(yàn)證全面協議。
  • 生成OK(合格)或NOK(不合格)的質(zhì)量判定結(jié)果
可選物鏡
  • 對(duì)系統(tǒng)的檢查只能使用工作物鏡完成(至少應(yīng)選擇一個(gè)物鏡)
  • 可以使用5X或10X物鏡,或使用這兩種物鏡對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行檢查
技術(shù)清潔度標(biāo)準(zhǔn) 支持標(biāo)準(zhǔn)
  • ASTM E1216-11:2016具體而言、ISO 4406:2021工具、ISO 4407:1999智慧與合力、ISO 4407:2002 [累積和差分]、ISO 11218:1993重要的角色、ISO 12345:2013開放要求、ISO 14952:2003、ISO 16232-10:2007(A平臺建設、N和V)服務機製、ISO 16232:2018(A、N和V)推動並實現、ISO 21018:2008薄弱點、DIN 51455:2015 [70%和85%]、NAS 1638:1964優化程度、NF E 48-651:1986積極性、NF E 48-655:1989、SAE AS4059:2011多種場景、VDA 19.1:2015(A多元化服務體系、N和V)、VDA 19.2:2015擴大公共數據、VDI 2083-21
精 確符合VDA19:2016的建議
  • 閾值自動(dòng)設(shè)置為VDA建議使用的值
顆粒種類識(shí)別
  • 顆辽疃??砂搭w粒種類分類(纖維、反光核心技術體系、反光纖維或其他)
自定義標(biāo)準(zhǔn)
  • 用戶可以非常容易地自行定義標(biāo)準(zhǔn)
  • 根據(jù)DT 55-83開拓創新,顆粒測(cè)量參數(shù)包括絲狀粒徑和致密粒徑
檢測(cè)配置
  • 該系統(tǒng)可使用戶加載、定義必然趨勢、復(fù)制促進善治、重命名、刪除和保存檢測(cè)配置
  • 還可以存儲(chǔ)和調(diào)用標(biāo)準(zhǔn)和報(bào)告模板
  • 可以反轉(zhuǎn)探測(cè)閾值多樣性,以探測(cè)到暗背景上的亮顆粒
  • 可以在一個(gè)序列中采集多個(gè)樣品
  • 每個(gè)樣品都可以使用特定的配置進(jìn)行檢測(cè)
顆粒平鋪視圖 以平鋪形式顯示探測(cè)到的顆粒發揮效力,提高了導(dǎo)航效率
  • 雙擊平鋪視圖可以檢索每個(gè)顆粒的位置
  • 每個(gè)平鋪視窗都與實(shí)際顆粒大小相適應(yīng)
保存完整的濾膜 存儲(chǔ)完整的濾膜
  • 離線分析可使用戶選擇不同的標(biāo)準(zhǔn)來(lái)顯示結(jié)果
數(shù)據(jù)導(dǎo)出 保存數(shù)據(jù)
  • 檢測(cè)數(shù)據(jù)可被導(dǎo)出到Excel(.xlsx)表格中
  • 軟件中所有可用的表格也可以導(dǎo)出到Excel中
趨勢(shì)分析 多個(gè)樣品的趨勢(shì)分析(內(nèi)置SQC工具)
  • 可以按大小等級(jí)顯示數(shù)據(jù)
  • 可以按時(shí)間、樣品明顯、測(cè)量ID將數(shù)據(jù)繪制成圖
  • 可以選擇比例(對(duì)數(shù)-正態(tài)安全鏈,對(duì)數(shù)-對(duì)數(shù))
  • 數(shù)據(jù)點(diǎn)可被提取并導(dǎo)出到電子數(shù)據(jù)表格中
  • 可以使用Q-DAS(.dfq)格式導(dǎo)出表格;軟件中的所有表格也可以導(dǎo)出到Excel中
顆粒編輯 可在修改過(guò)程中對(duì)顆粒進(jìn)行編輯創新為先。 可進(jìn)行以下操作:
  • 使用直線或折線添加真正做到、刪除、合并或拆分顆粒
  • 更改顆粒類型
動(dòng)態(tài)報(bào)告 可通過(guò)使用Microsoft Word 2019制作專業(yè)分析報(bào)告
  • 模板是可自定義的
  • 用戶在選擇不同的顆粒種類時(shí)創新延展,可以選擇將圖片放在表格后面強化意識,或者將所有圖片放在一起

可選配解決方案CIX-S-HM

高度測(cè)量 對(duì)選定顆粒進(jìn)行自動(dòng)或手動(dòng)高度測(cè)量
  • 可選配的軟件解決方案,可以使電動(dòng)聚焦驅(qū)動(dòng)功能對(duì)所選顆粒自上到下自動(dòng)聚焦進展情況。然后通過(guò)計(jì)算顆粒在Z軸上頂部和底部相差的距離得出顆粒的高度的積極性。
  • 包含1個(gè)附加物鏡(20X MPLFLN)和一個(gè)需要在安裝時(shí)激活的許可證卡片。
  • 可以在多個(gè)位置選擇多個(gè)顆粒進(jìn)行自動(dòng)高度測(cè)量至關重要。

環(huán)境法律和法規(guī)

歐洲 低電壓指令2014/35/EU
EMC指令2014/30/EU
RoHS指令2011/65/EU
REACH法規(guī)不久前,編號(hào)1907/2006
包裝和包裝廢棄物指令94/62/EC
歐盟WEEE指令2012/19/EU
機(jī)械指令2006/42/EC
美國(guó) UL 61010-1:2010,第3版
FCC 47 CFR提升行動,第15部分能力建設,分項(xiàng)B
加拿大 CAN/CSA-C22.2(No.61010-1-12)
澳大利亞 1992年無(wú)線電通信法、1997年電信法
節(jié)能條例AS/NZS 4665-2005
日本 電器和材料安 全法(PSE)
韓國(guó) 電器安 全控制法
關(guān)于能效標(biāo)簽和標(biāo)準(zhǔn)的條例
關(guān)于EMC和無(wú)線通信的條例(第2913-5號(hào)通知)
中國(guó) 中國(guó)RoHS
中國(guó)PL法
有關(guān)手冊(cè)的條例


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