EL
- 電路板故障紅外熱分析系統(tǒng)
介紹
許多電路板的缺陷，不能使用諸如電路測試不久前、功能測試用上了、光學檢測，以及X射線檢測等這些常規(guī)的故障分析的方法來檢測和識別缺陷能力建設。例如以下的這些缺陷：
- 電源對地短路和低電阻短路
- 過壓和邊緣組件
- 有缺陷的BGA關註，VOC（壓控振蕩器）和去耦電容等
- 散熱器失效
技術(shù)人員和工程師可能需要花很多時間去調(diào)試檢測和測試電路板，而大多因為無法找出缺陷而只能選擇報廢無障礙。EL電路板故障診斷系統(tǒng)提供了一個可以定位這些缺陷的檢測方法連日來，使其成為常規(guī)分析檢測方法之外的另一種選擇。常規(guī)檢測和診斷技術(shù)之間的空白認為。
關(guān)于Optotherm相關(guān)產(chǎn)品在/optotherm/有詳細的描述系統，另建有應(yīng)用實驗室，歡迎大家送樣測試重要意義。
EL是一種有效的和經(jīng)濟的工具交流等，它可以降低檢測成本和減少廢料。對有故障的缺陷板進行初次篩查時規劃，EL可以快速提供有用的故障排除信息提高，大大減少了維修時間。
OPTOTHERM PCBA FA DETECT
待測電路板 分析結(jié)果
故障診斷軟件工具
- 熱點探測定位短路位置
- 與正常電路板比較基礎上，來解決更復雜的缺陷問題
- 紅外-可見光點對點融合疊加準確定位電路板上的缺陷
應(yīng)用
產(chǎn)線返工
大量時間都花在測試從產(chǎn)線上退回來的板各領域。技術(shù)人員使用從ICT，F(xiàn)CT等其他設(shè)備來識別缺陷融合，但往往很少能找出缺陷深入闡釋。缺陷的構(gòu)成在制造中過程與在生產(chǎn)線的末端有太大的不同。在此階段完成的事情，大多數(shù)缺陷通常由電源對地短路和缺陷器件造成的物聯與互聯。EL檢測這些測缺陷板時，已經(jīng)證明通常超過75％的檢出率改造層面。當用EL作為有缺陷的電路板初次篩查供給，EL可以快速提供有用的故障排除信息優勢與挑戰，大大減少了維修時間。
返廠維修
當電路板有具體不良現(xiàn)象從使用端退回來解決方案。很多時候趨勢，技術(shù)人員很少或不知道從哪里開始進行失效分析。 EL可以提供非常有用的信息上高質量，讓技術(shù)人員來縮小他們的搜索范圍一站式服務，鎖定在只有幾個可疑組件的小區(qū)域內(nèi)。
廢品回收
EL常用于PCBA回收深入交流。報廢的PCBA價值可以達到數(shù)百萬美元引領作用，他們的恢復可以帶來直接和可觀的經(jīng)濟利益。 EL通常使OEM和供應(yīng)商得以挽救他們的50％以上的報廢品臺上與臺下。在這樣的情況下用的舒心，投資回收期可縮短至2至3個月。
功能驗證
EL可以用做電路板的基本功能測試集聚效應。雖然EL不能提供電路板功能測試儀那樣的詳細的功能測試集成，但它可以提供基本的功能驗證。與傳統(tǒng)的功能測試儀相比等形式，EL具有成本低和快速配置等優(yōu)點技術的開發。沒有定制的硬件要求，可以在1小時內(nèi)配置完成飛躍。當一臺專業(yè)的功能測試儀的成本太高而難以承受時更高效，EL是理想的選擇。
優(yōu)化設(shè)計
因為增加的布局和功率密度重要部署，熱成像已成為在設(shè)計過程中的重要工具具體而言。 EL輔助電路板布局設(shè)計，幫助他們獲取和分析原型電路板和元件的溫度分布是否合理智慧與合力。熱管理問題可以在生產(chǎn)開始之前在設(shè)計階段就解決喜愛，限度地減少故障排查和維修帶來的高成本。此外數據顯示，通過形成一個開發(fā)板和元器件的熱分布歷史數(shù)據(jù)高質量，設(shè)計人員在設(shè)計階段就可以合理布局以實現(xiàn)熱合理分布。
在線篩選
EL可以在生產(chǎn)線上的產(chǎn)品進行篩選記得牢，以找出常規(guī)測試方法無法檢測的缺陷註入了新的力量。過壓器件可以通過ICT和FCT檢測，卻在該產(chǎn)品使用的早期就失效更多可能性，因而存在可靠性隱患去創新。許多時候，這些組件的升溫速度比正常的要快緊迫性，通過EL檢測在它們出廠之前就能被發(fā)現(xiàn)結構。通過在生產(chǎn)線的末端使用EL更適合，許多這些缺陷可以在它們到達廢料堆之前就確定。
