| 參考價 | 面議 |
Formtracer表面粗糙度、輪廓形狀一體機FormtracerSV-C3200/4500525系列—表面粗糙度和輪廓測量系統(tǒng)通過更換檢測器深入交流研討，一臺機器上能測量表面粗糙度和輪廓形狀的一體型測量機資料，同時能測量表面粗糙度和測量輪廓形狀的混合型測量機
Formtracer表面粗糙度、輪廓形狀一體機
Formtracer SV-C3200/4500 525 系列 — 表面粗糙度和輪廓測量系統(tǒng)
通過更換檢測器關註度，一臺機器上能測量表面粗糙度和輪廓形狀的一體型測量機 橫向協同，同時能測量表面粗糙度和測量輪廓形狀的混合型測量機 。
產(chǎn)品特點 |
| ? Z1軸檢出器作為標準件提供敢於挑戰。Z1軸的顯示分辨力為0.0001μm(測量范圍為8μm時)不斷創新。 | |
| ? X軸內置玻璃光柵尺，直接讀取X軸移動距離提供了遵循，在定位下參與水平，完成間距參數(shù)的評價。 | |
| ? 檢出器測力有4mN和0.75mN可選服務效率。 | |
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| ? Z1軸(檢出器)上配有弧形光柵尺和測臂明確相關要求。弧形光柵尺能直接讀取測針的弧形軌跡統籌發展，以實現(xiàn)精度和分辨力深化涉外。與其他型號相比，測臂使Z1軸測量范圍增大了10mm 同時減少了工件的干擾生產製造。測臂安裝部采用了磁性鏈接件開展試點，單此接觸就能完成測臂的裝卸，提高了易用性共同。 | ? 為SV-C-4500系列增加了以下兩大特性作為輪廓測量系統(tǒng)的功能推進一步。 裝配雙錐面測針，實現(xiàn)垂直方向(上/下)連續(xù)測量充分發揮，所獲取的數(shù)據(jù)實現(xiàn)測量內螺紋有效直徑選擇適用。測力可在FORMTRACEPAK軟件中設置。不用調整配重設計。 |
| ?表面粗糙度/輪廓FORMTRACEPAK分析程序交流，通過簡單的操作就能進行分析并即刻輸出結果。 | |
| ? 表面粗糙度測試儀和輪廓測量儀結合在一起提供堅實支撐，節(jié)省安裝空間還不大。 | |
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| ? 測臂安裝為一鍵式裝卸 測臂安裝部采用了磁性連接件，實現(xiàn)了較快速更換。此外，裝卸部內置了安全結構。 | |
產(chǎn)品規(guī)格 |
| 貨號 | SV-C3200S4 | SV-C3200H4 | SV-C3200W4 | SV-C3200S8 | SV-C3200H8 | SV-C3200W8 | |
SV-C4500S4 | SV-C4500H4 | SV-C4500W4 | SV-C4500S8 | SV-C4500H8 | SV-C4500W8 | ||
| 測量表面粗糙度時 | |||||||
| 測量范圍 | X 軸 (驅動部) | 100mm | 200mm | ||||
| Z1 軸 (檢出器) | 800μm/80μm/8μm | ||||||
| 直線度 | (0.05+L/1000) μm L: 驅動長度 (mm) | 0.5μm/200mm | |||||
| 分辨力 | Z1軸（檢出器） | 0.01μm(800μm), 0.001μm(80μm), 0.0001μm(8μm) | |||||
| 測力 | 0.75mN (機身代碼末尾帶 “-1”的型號) 4mN (機身代碼末尾帶“-2”的型號) | ||||||
| 測針針尖形狀 | 60o, 2μmR (機身代碼末尾帶 “-1”的型號) 90o, 5μmR (機身代碼末尾帶 “-2”的型號) | ||||||
| 對應尺寸 | JIS1982/ JIS1994/ JIS2001/ ISO1997/ ANSI/ VDA | ||||||
| 評價參數(shù) | Pa, Pq, Psk, Pku, Pp, Pv, Pz, Pt, Pc, PSm, P q, Pmr(C), Pmr, P&c, Ra, Rq, Rsk, Rku, Rp, Rv, Rz, Rt, Rc, RSm, R q, Rmr(C), Rmr, R c, Wa, Wq, Wsk, Wku, Wp, Wv, Wz, Wt, Wc, WSm, W q, Wmr(C), Wmr, W c, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, Rx, AR, R, Wx, AW, W, Wte, Ry, RyDIN, RzDIN, R3y, R3z, S, HSC, Lo, Ir, a, a, q, Vo, Htp, NR, NCRX, CPM, SR, SAR, NW, SW, SAW | ||||||
| 評價輪廓 | 原始輪廓豐富內涵、粗糙度輪廓、濾波波紋輪廓引領、波紋輪廓、滾動圓波形原始輪廓示範、滾動圓波形 輪廓應用前景、包絡殘余線、DF 輪廓 (DIN4776 / ISO13565-1)運行好、表面粗糙度MOTIF (包絡波紋輪廓在評 價MOTIF 時顯示) | ||||||
| 分析圖 | 負荷曲線首次、振幅分布曲線、功率譜部署安排、自相關搖籃、Walsh 功率譜、 Walsh 自相關推廣開來、峰分布推動、 傾斜角分布、參數(shù)分布(磨損量資源配置、重疊在輪廓分析可以用于面積等的原始分析) | ||||||
| 曲線補償 | 平方直線信息、R 面補償、橢圓補償大力發展、拋物線補償豐富內涵、雙曲線補償、二次曲線補償不同需求、多項式 補償(自動或任意2~7 次)發展、無補償 | ||||||
| 濾波器 | 高斯濾波器, 2CRPC75, 2CRPC50, 2CR75, 2CR50, 魯棒樣條濾波器 | ||||||
| 輪廓測量 | |||||||
| 測量范圍 | X軸（驅動部） | 100mm | 200mm | ||||
| Z1軸（檢出器） | 60mm (測臂水平位置±30mm) | ||||||
| 直線度 | 0.8μm/100mm | 2μm/200mm | |||||
| 精度 | X軸（驅動部） | ±(0.8+0.01L)μm L: 驅動長度 (mm) | ±(0.8+0.02L)μm L = 驅動長度 (mm) | ||||
| Z1軸（檢出器） | SV-C3200 系列: ±(1.6+|2H|/100)μm, SV-C4500 系列: ±(0.8+|2H|/100)μm H: 水平位置上的測量高度 (mm) | ||||||
| 分辨力 | X軸（驅動部） | 0.05 μm | |||||
| Z1軸（檢出器） | SV-C3200 系列: 0.04μm, SV-C4500 系列: 0.02μm | ||||||
| Z2軸（立性） | 1 μm | ||||||
| 測力 | SV-C3200 系列: 30mN (可調使用重量) SV-C4500 系列: 10, 20, 30, 40, 50mN (根據(jù)軟件轉換) | ||||||
| 側頭方向 | SV-C3200 系列: 垂直方向 (向上/ 向下單獨測量) SV-C4500 系列: 垂直方向 (向上/ 向根據(jù)配重調整) | ||||||
| 通用時 | |||||||
| Z2軸 (立柱) 移動量 | 300mm | 500mm | 300mm | 500mm | |||
| X 軸傾斜角度 | ±45o | ||||||
| 驅動速度 | X 軸0 | 0 - 80mm/s 外加手動 | |||||
| Z2 軸 (立柱) | 0 - 30mm/s 外加手動 | ||||||
| 測量速度 | 0.02 - 5mm/s | ||||||
產(chǎn)品選件 |
| Y 軸工作臺：178-097 | |
| 對多個排列工件和同一測量面上的多點進行自動測量建設應用。 | |
| 旋轉工作臺 q1 軸：12AAD975* | |
| 提高軸向/ 橫向上的測量效率支撐作用。當測量一個圓筒形工件時，與Y 軸臺相配合進行自動調準動力。 * 當直接安裝在SV-3100 主機工作臺上使用時同時，需要另行選購q1 軸安裝板(12AAE630)。 | |
| 旋轉工作臺q2 軸組件：178-078* | |
| 可實現(xiàn)自動測量圓柱形狀測量工件的多處效高性、正反兩面模式。 * 如想直接安裝在SV-3100 主機工作臺上使用，需要另行選購q2 軸安裝板(選配 : ***2AAE718) | |
| 定心(滾花環(huán)固定) ：211-032 | 微型快速卡盤：211-031 |
| 測量小型物件時提升，采用滾花環(huán)達到固定的目的高品質。 | 采用它可以固定小直徑的工件。 |
| 自動調水平工作臺：178-087 | |
| 當測量開始后，它可以自動調整水平資源優勢。此外高效利用，操作簡單和可靠。 | |
| 其他選件 |
檢測器●測針
| 檢測器 | 接頭 |
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*產(chǎn)品信息僅供參考估算，型號和技術參數(shù)生產(chǎn)廠家有可能隨時更改
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