如果你想獲得好的結(jié)果，穩(wěn)定性是的發展空間。欣賞 Axio Imager 2 穩(wěn)定的成像條件效果，尤其是在使用高放大倍率或執(zhí)行時(shí)間依賴性研究時(shí)。由于 Axio Imager 2 的機(jī)動(dòng)化足了準備，可在始終在恒定條件下工作的同時(shí)實(shí)現(xiàn)快速且可重復(fù)的結(jié)果合作關系。
用于材料研究的蔡司 Axio Imager 2
用于自動(dòng)材料分析的開放式顯微鏡系統(tǒng)
當(dāng)您進(jìn)行高級(jí)材料研究時(shí)，請(qǐng)?jiān)诠鈱W(xué)顯微鏡工作流程中引入易用性深刻內涵。使用 ZEISS Axio Imager 2 獲得材料的準(zhǔn)確且可重復(fù)的結(jié)果結構，讓您受益匪淺。選擇適合您的應(yīng)用的系統(tǒng)貢獻。通過(guò)顆粒分析規模最大、共焦或相關(guān)顯微鏡等專用解決方案擴(kuò)展您的儀器。
- 可重復(fù)的結(jié)果
- 模塊化設(shè)計(jì)
模塊化設(shè)計(jì)
獲得增強(qiáng)的靈活性
無(wú)論是在學(xué)術(shù)研究還是工業(yè)研究中統籌，材料顯微鏡都面臨著各種挑戰(zhàn)最深厚的底氣。借助 Axio Imager 2，您將能夠應(yīng)對(duì)并贏得這些挑戰(zhàn)振奮起來。連接特定于應(yīng)用的組件并執(zhí)行例如顆粒分析品質。研究非金屬夾雜物 (NMI)、液晶或基于半導(dǎo)體的 MEM深入各系統。通過(guò)共焦或相關(guān)顯微鏡專用解決方案擴(kuò)展您的儀器解決問題。
高光學(xué)性能
實(shí)現(xiàn)出色的對(duì)比度和分辨率
- 使用不同的對(duì)比技術(shù)檢查一系列材料，例如金屬作用、復(fù)合材料或液晶相互配合。
- 使用反射光并在明場(chǎng)、暗場(chǎng)高質量、微分干涉襯度 (DIC)相對簡便、圓微分干涉襯度 (C-DIC)重要組成部分、偏振或熒光下觀察樣品。
- 使用透射光并在明場(chǎng)合作、暗場(chǎng)勃勃生機、微分干涉襯度 (DIC)、偏振或圓偏振下檢查樣品極致用戶體驗。對(duì)比度管理器確碧峁┯辛χ?？芍貜?fù)的照明設(shè)置。
