從380nm~1050nm的可視光至近紅外實現(xiàn)大范圍波長區(qū)域中的分光測定

奧林巴斯的近紅外顯微分光測定儀USPM-RU-W可以高速&高精細地進行可視光區(qū)域至近紅外區(qū)域的大范圍波長的分光測定技術創新。由于其可以很容易地測定通常的分光光度計所不能測定的細微區(qū)域、曲面的反射率資料，因此十分適用于光學(xué)元件與微小的電子部件等產(chǎn)品廣泛應用。

實的測定功能

使用一臺即可進行反射率、膜厚新產品、物體顏色去完善、透過率、入射角45度反射率的各種分光測定長遠所需。

測定反射率

測定以物鏡聚光的Φ17~70μm的微小點的反射率求索。

測定膜厚

活用反射率數(shù)據(jù)，測定約50nm~約10μm的單層膜規模、多層膜的膜厚穩定發展。

測定物體顏色

根據(jù)反射率數(shù)據(jù)顯示XY色度圖、L*a*b*色度圖及相關(guān)數(shù)值聯動。

測定透過率　(選配)

從受臺下部透過?2mm的平行光增持能力，測定平面樣品的透過率。

測定入射角為45度的反射率（選配）

從側(cè)面向45度面反射?2mm的平行光行業內卷，測定其反射率追求卓越。

域的高精度&高速測定

實現(xiàn)高速測定

使用平面光柵及線傳感器進行全波長同時分光測定，從而實現(xiàn)高速測定。

十分適用于測定細小部件覆蓋、鏡片的反射率

新設(shè)計了可以在?17~70μm的測定區(qū)域中進行非接觸測定的專用物鏡異常狀況。通常的分光光度計不能進行測定的細小電子部件或鏡片等的曲面，也可以實現(xiàn)再現(xiàn)性很高的測定高效。

測定反射率時應用創新，不需要背面防反射處理

將專用物鏡與環(huán)形照明組合，不需要進行被檢測物背面的防反射處理機構，就可測定0.2mm的反射率*的特性。*使用40×物鏡時，在本公司的測定條件下進行測定基礎。

可選擇的膜厚測定方法

根據(jù)測定的分光反射率數(shù)據(jù)進行單層膜或多層膜的膜厚解析提供堅實支撐。可以根據(jù)用途選擇z佳的測定方法高產。

峰谷法

這是一種根據(jù)測定的分光反射率值的峰值與低谷的周期性計算出膜厚的方法信息化技術，對于測定單層膜是有效的。不需要復(fù)雜的設(shè)置良好，可以簡單地求出逐步顯現。

傅里葉轉(zhuǎn)換法

這是一種根據(jù)測定的分光反射率值的周期性計算膜厚的方法，對于單層膜及多層膜的測定有效引領。難以檢測出峰值及低谷等時自動化裝置，可以幾乎不受噪音的影響進行解析。

曲線調(diào)整法

這是一種通過推算測定的分光反射率值與根據(jù)某種膜構(gòu)造計算的反射率的差達到最小的構(gòu)造計算出膜厚的方法占，對于單層膜及多層膜的測定有效高質量。還可以進行不會出現(xiàn)峰值及低谷的薄膜解析。

多樣化應(yīng)用

高速激發創作、高精度地應(yīng)對多樣化測定需求前景。

通過測定球面、非球面的鏡片增幅最大、濾鏡共享應用、反射鏡等光學(xué)元件的反射率，進行涂層評價研究成果、物體顏色測定取得了一定進展、膜厚測定。

數(shù)碼相機鏡片

投影儀鏡片

光讀取頭鏡片

眼鏡片

適用于LED反射鏡大面積、半導(dǎo)體基板等微小電子部件的反射率測定積極參與、膜厚測定。

LED包裝

半導(dǎo)體基板

適用于平面光學(xué)元件培養、彩色濾鏡交流研討、光學(xué)薄膜等的反射率測定更加完善、膜厚測定、透過率測定建設應用。

液晶彩色濾鏡

光學(xué)薄膜

適用于棱鏡支撐作用、反射鏡等45度入射產(chǎn)生的反射率測定。

棱鏡

反射鏡

近紅外顯微分光測定儀 USPM-RU-W：規(guī)格

*1 選件組件 　*2 本社測定條件下的測定 　*3 裝配透過率測定套件與45度反射測定套件的總重量為33kg模式。

對物鏡

*4 點徑