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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱 北京中顯恒業(yè)儀器儀表有限公司
品牌
型號(hào)
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廠商性質(zhì) 代理商
更新時(shí)間 2024/5/24 15:39:56
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促銷詳情

促銷時(shí)間：

特價(jià)說(shuō)明：

促銷詳細(xì)：

2020年01月08日至 2020年02月08日

特價(jià)促銷

模內(nèi)澆口分離自動(dòng)化相對簡便，降低對(duì)人的依賴度重要組成部分；傳統(tǒng)的塑膠模具開(kāi)模后產(chǎn)品與澆口相連，需二道工序進(jìn)行人工剪切分離合作，模內(nèi)熱切模具將澆口分離提前至開(kāi)模前勃勃生機，消除后續(xù)工序，有利于生產(chǎn)自動(dòng)化結論，降低對(duì)人的依賴和諧共生。

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

我也要發(fā)布產(chǎn)品信息

總體描述創(chuàng)新的Xradia800Ultra，將高通量實(shí)驗(yàn)室X射線源與專業(yè)的X射線光學(xué)器件整合至一套獨(dú)立的超高分辨率CT掃描X射線顯微鏡中適應性強，從而SEM技術交流、TEM或AFM等現(xiàn)有高分辨率成像技術(shù)與光學(xué)顯微鏡技術(shù)或傳統(tǒng)microCT技術(shù)之間的空白

詳細(xì)信息在線詢價(jià)

總體描述

創(chuàng)新的 Xradia 800 Ultra，將高通量實(shí)驗(yàn)室 X 射線源與專業(yè)的X 射線光學(xué)器件整合至一套獨(dú)立的超高分辨率 CT 掃描 X 射線顯微鏡中拓展，從而 SEM創造更多、TEM 或 AFM 等現(xiàn)有高分辨率成像技術(shù)與光學(xué)顯微鏡技術(shù)或傳統(tǒng) microCT 技術(shù)之間的空白。

技術(shù)參數(shù)：

蔡司 Xradia 800 Ultra

無(wú)損三維 X 射線成像允許在直接微觀結(jié)構(gòu)觀察下對(duì)同一樣品進(jìn)行重復(fù)成像

在原位設(shè)備中樣品成像保持低至 50nm 的高分辨率
用于斷層掃描重構(gòu)的圖像自動(dòng)調(diào)整功能
視野可在 15 至 60 μm 的范圍內(nèi)進(jìn)行切換
吸收襯度和 Zernike 相位襯度成像模式
在實(shí)驗(yàn)室中開(kāi)發(fā)不斷進步、準(zhǔn)備工藝技術、測(cè)試你計(jì)劃的同步實(shí)驗(yàn)，讓有限的同步輻射時(shí)間更加有效率
搭配 Scout-and-Scan 控制系統(tǒng)和基于工作流程的用戶界面規模，尤其適合研究人員水平各不相同的中心實(shí)驗(yàn)室

特點(diǎn)：

Xradia 800 Ultra 的分辨率低至50 nm近年來，使微觀結(jié)構(gòu)和進(jìn)程可視化，這些是傳統(tǒng)實(shí)驗(yàn)室 X 射線技術(shù)不能實(shí)現(xiàn)的發展目標奮鬥。在 X 射線能量為8 KeV下運(yùn)行技術先進，的穿透力和襯度適合各種材料，使您可以觀察自然狀態(tài)下的結(jié)構(gòu)和材料作用。
集成相位襯度技術(shù)的 Xradia 800 Ultra 運(yùn)用 Zernike 方法在吸收襯度低時(shí)可增強(qiáng)晶界和材料交界處的可見(jiàn)度情況正常，使未染色的超結(jié)構(gòu)和納米結(jié)構(gòu)可視化行業分類。
蔡司Xradia 800 Ultra 采用類似橫切法的無(wú)損技術(shù)技術特點，提供可信賴的內(nèi)部 3D 信息。大工作距離和空氣樣品環(huán)境使您可以輕松的進(jìn)行原位研究發展邏輯。