ZEM15臺式掃描電鏡能譜一體機(jī) 產(chǎn)品分類：掃描電鏡能譜一體機(jī) 品牌：澤攸科技型號：ZEM15加速電壓：1-15kV連續(xù)可調(diào)探測器種類：二次電子探測器深刻內涵、背散射電子探測器傳遞、能譜儀放大倍數(shù)：150000x元素分析范圍：B5 - Cf98

ZEM15臺式掃描電鏡能譜一體機(jī) 采用自主研發(fā)的鎢燈絲電子槍，加速電壓在1-15kV范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào)深入闡釋，可同時搭配二次電子探測器相關性、背散射電子探測器、集成式能譜儀及多種原位樣品臺物聯與互聯，滿足不同實(shí)驗(yàn)及檢測需求穩定，應(yīng)用領(lǐng)域廣泛。

電鏡主機(jī)特色

僅需鼠標(biāo)即可完成所有操作供給，無須對中光闌等復(fù)雜步驟優勢與挑戰；

亮度/對比度一鍵自適應(yīng)，自動/手動聚焦;

抽真空時間小于90秒解決方案；

標(biāo)配光學(xué)導(dǎo)航最為顯著，搭配多樣品臺，實(shí)現(xiàn)快速找樣及切換樣品規定；

信號采集帶寬10M環境，掃描速度快；

視頻模式下實(shí)時觀察樣品高質量，操作流暢相對簡便，無卡頓；

四分割背散射電子探測器（多種成像模式）流程、二次電子探測器合作；

BSE+SE 模式（任意比列混合）、集成EDS元素分析功能助力各業；

國內(nèi)生產(chǎn)極致用戶體驗、銷售、售后一體化服務(wù)應用；

北京建議、上海品率、安徽、廣東常駐工程師并提供設(shè)備演示不斷發展；

能譜儀參數(shù)

集成 Oxford Xplore Compact 30 能譜分析系統(tǒng)SuperATW 窗口 30mm2面積活區(qū)

分辨率優(yōu)于129eV（MnKα處）無需液氮冷卻

分析元素范圍：B5 - Cf98

點(diǎn)積極影響、線、面掃描分析

全中文軟件操作界面（中英文切換功能）