超高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡SU8600系列
隨著快速數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)處理技術(shù)的發(fā)展深入開展，電子顯微鏡進(jìn)入了一個(gè)不僅重視數(shù)據(jù)質(zhì)量，而且重視其采集過(guò)程的時(shí)代等形式。SU8600系列秉承了Regulus8200系列的高質(zhì)量圖像技術的開發、大束流分析及長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定運(yùn)行的冷場(chǎng)成像技術(shù)，同時(shí)還大大提升了高通量相貫通、自動(dòng)數(shù)據(jù)獲取能力不斷發展。
特點(diǎn)：
超高分辨成像
日立的高亮度電子源可保證了即使在超低著陸電壓下，也可獲得超高分辨的圖像自動化方案。
0.8 kV電壓條件下觀察RHO型沸石的實(shí)例緊密協作。左圖為顆粒整體的形貌,右圖為放大圖像，顆粒表面細(xì)微的臺(tái)階結(jié)構(gòu)清晰可見(jiàn)線上線下。低電壓觀察對(duì)于減少電子束損傷和獲取表面形狀信息較為有效發揮重要作用。
高襯度的低加速電壓背散射圖像
3D NAND截面觀察;
在低加速電壓條件下醒悟，背散射電子信號(hào)能夠明顯的顯示出氧化硅層和氮化硅層的襯度差別。
3D NAND截面觀察（加速電壓：1.5kV）
快速BSE圖像：新型閃爍體背散射電子探測(cè)器(OCD)*
由于使用了新型的OCD探測(cè)器高質量，即使掃描時(shí)間不到1秒也逐步提升，也仍然可以觀察到Fin-FET清晰的深層結(jié)構(gòu)圖像.
5納米制程SRAM的內(nèi)部結(jié)構(gòu)觀察 （加速電壓：30kV，掃描時(shí)間<1秒）
的自動(dòng)化功能*
EM Flow Creator 允許客戶創(chuàng)建連續(xù)圖像采集的自動(dòng)化工作流程註入了新的力量。EM Flow Creator將不同的SEM功能定義為圖形化的模塊重要的作用，如設(shè)置放大倍率、移動(dòng)樣品位置去創新、調(diào)節(jié)焦距和明暗對(duì)比度等足夠的實力。用戶可以通過(guò)簡(jiǎn)單的鼠標(biāo)拖拽，將這些模塊按邏輯順序組成一個(gè)工作程序結構。經(jīng)過(guò)調(diào)試和確認(rèn)后多種場景，該程序便可以在每次調(diào)用時(shí)自動(dòng)獲得高質(zhì)量、重現(xiàn)性好的圖像數(shù)據(jù)規劃。
靈活的用戶界面
原生支持雙顯示器擴大公共數據，提供靈活、高效的操作空間帶動擴大。6通道同時(shí)顯示與保存核心技術體系，實(shí)現(xiàn)快速的多信號(hào)觀測(cè)與采集。
1,2,4 或6通道信號(hào)可在同一個(gè)顯示器上同時(shí)顯示持續發展，可切換內(nèi)容包括SEM各探測(cè)器以及樣品室相機(jī)和導(dǎo)航相機(jī)必然趨勢。可以通過(guò)使用兩個(gè)顯示器來(lái)擴(kuò)展工作空間擴大，可定制的用戶界面以提高工作效率多樣性。
規(guī)格：
