手持式XRF合金分析儀X-MET8000將日立HITACHI的高性能X光管和大面積硅漂移探測器（SDD）地耦合在一起，其速度和性能幾乎可滿足市場上所有的金屬分析應(yīng)用需求

手持式 XRF合金分析儀X-MET8000將日立HITACHI的高性能 X 光管和大面積硅漂移探測器（SDD）地耦合在一起的發生，其速度和性能幾乎可滿足市場上所有的金屬分析應(yīng)用需求組成部分。

X-MET8000 手持式合金分析儀是檢驗(yàn)及制造行業(yè)中，進(jìn)行廢舊金屬回收新的動力、貴金屬及珠寶分析的過程中、材料可靠性鑒定（PMI）的理想工具。

X-MET8000系列有三種型號廣泛關註，可滿足不同的分析需求和資金預(yù)算需求

簡單的“對準(zhǔn)即測”操作促進進步，使用方便, 測試時(shí)間靈活選擇

直觀的大圖標(biāo)式用戶界面：操作員幾乎不需任何培訓(xùn)

大面積4.3英寸彩色觸摸屏，即便在陽光直射下也能清晰地看到檢驗(yàn)結(jié)果優勢領先。操作簡單方便迎來新的篇章，戴上手套也不受影響

符合IP54 等級（相當(dāng)于 NEMA 3），能夠適應(yīng)的環(huán)境

加強(qiáng)型防護(hù)窗口（用于Expert 及 Optimum）可防止X射線管和探頭在測試小部件和尖銳物體時(shí)受損

可快速更換防護(hù)窗口：無需任何工具即可快速更換已損壞或玷污的窗口

可按客戶要求定制檢驗(yàn)結(jié)果模式推動並實現，以便于快速作出判斷：即顯示您所需重要信息薄弱點，例如合號、元素成分優化程度、合格/不合格通知重要性，以及元素的顯示順序

時(shí)尚精巧的設(shè)計(jì)

可選配相機(jī)，有助于準(zhǔn)確定位測量

大量可自定義的牌號庫