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返回產品中心>光學行業(yè)基準型儀器也逐步提升；標準實驗室標樣鑒定記得牢、光學、鍍膜不可缺少、半導體蓬勃發展、光伏特點、太陽能等行業(yè)
光學行業(yè)基準型儀器積極回應；
標準實驗室標樣鑒定、光學又進了一步、鍍膜多種場景、半導體、光伏規劃、太陽能等行業(yè)擴大公共數據。
自帶光學平臺，防震系統(tǒng)帶動擴大，儀器在實驗室之間可以移動核心技術體系，反映光路穩(wěn)定，不需要重新校準
| 切換檢測器波長時會產生小的信號差異,即使這樣UH4150也可實現高精度的測定持續發展。 | ||
| 安裝在積分球上的多個檢測器可在紫外-可見-近紅外的波長范圍內進行測定應用提升。由于使用日立專業(yè)的積分球結構技術和信號處理技術等，將檢測器切換時（信號水平的差異）吸光度值的變化降到最小創造性。 | ||
| 日立高性能的棱鏡-光柵雙單色器系統(tǒng)可實現低雜散光和低偏振發展的關鍵。 |
| UH4150采用棱鏡-光柵（P-G）雙單色器的光學系統(tǒng)，秉承U-4100光學系統(tǒng)的特點規模設備。 棱鏡-光柵（P-G）系統(tǒng)與常見的光柵-光柵（G-G）系統(tǒng)相比,S和P偏振光強度沒有大的改變真諦所在。即使對于低透過率和反射率的樣品，UH4150也可實現低噪音測定競爭力。 |
| 平行光束可實現反射光和散射光的準確測定充分。 | ||
| 入射角對固體樣品鏡面反射率的測定非常重要。對于會聚光束集聚，由于入射角根據透鏡的焦距等因素會不同競爭力，因此，像導電多層膜和棱鏡等光學薄膜的模擬設計值將與實際測定值不同。 但對于平行光束兩個角度入手，相對于樣品入射角始終相同建強保護，實現了高精度鏡面反射率的測定。此外生產效率，平行光束可用于擴散率（霧度）的評價和透鏡透過率的測定使命責任。 | ||
| 儀器結構： | 雙光束 | 光譜帶寬： | 0.1nm |
| 波長準確度： | ±0.2nm | 雜散光(S.L.)： | ±0.00008%T |
| 波長范圍： | 175nm~3300nm | 自動程度： | 自動波長 |
| 波長范圍： | 紫外可見近紅外 | 接收器類： | 光電二極管陣列 |
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