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LEXTOLS4500是一款集成了激光顯微鏡和探針掃描顯微鏡功能于一體的新型納米檢測顯微鏡影響，可以實現(xiàn)從50倍到100萬倍的大范圍的觀察和測量
LEXT OLS4500是一款集成了激光顯微鏡和探針掃描顯微鏡功能于一體的新型納米檢測顯微鏡，可以實現(xiàn)從50倍到100萬倍的大范圍的觀察和測量技術節能。
配有涵蓋了低倍觀察到高倍觀察的4種物鏡國際要求，并在電動物鏡轉(zhuǎn)換器上裝配了SPM單元流動性。可以無縫切換倍率和觀察方法競爭激烈，不會丟失觀察對象具體而言。此外，該款顯微鏡可以進行納米級觀測智慧與合力。
放置好樣品后，所有的操作都在1臺裝置上完成增產底只?？梢匝杆偃鎱f議，正確的把觀察對象移到SPM顯微鏡下面創造，所以只要掃描1次就能獲取所需的SPM影像。
OLS4500是把光學顯微鏡、激光顯微鏡再獲、探針顯微鏡融于一體的一體機產品和服務，所以無需重新放置樣品，即可自由切換3種顯微鏡進行觀察和評價體驗區。這3種顯微鏡各自持有優(yōu)異的性能增多，所以能夠高效輸出更佳結果。
OLS4500采用了白色LED光源進一步推進， 可以觀察到顏****真的高分辨率彩色影像。它裝有4種物鏡方案， 涵蓋了低倍到高倍的大范圍觀察應用的選擇。OLS4500充分發(fā)揮了光學觀察的特長， 除了常使用的明視場觀察（BF）以外科普活動， 還可以使用對微小的凹凸添加明暗對比創新延展， 達到視覺立體效果的微分干涉觀察（DIC）， 以及用顏色表現(xiàn)樣品偏光性的簡易偏振光觀察長期間。此外基本情況， OLS4500上還配有HDR功能（高動態(tài)范圍功能）， 該功能使用不同的曝光時間拍攝多張影像后進行合成高端化， 來顯示亮度平衡更好力量、強調(diào)了紋理的影像。在OLS4500上您可以使用多種觀察方法迅速找到觀察對象提單產。
OLS4500在電動物鏡轉(zhuǎn)換器上裝配了涵蓋低倍到高倍觀察的4種物鏡設備製造， 以及小型SPM單元。在光學顯微鏡或激光顯微鏡的50倍高質量、100倍的實時觀察中相對簡便， 由于SPM掃描范圍一直顯示于視場中心， 所以把觀察目標點對準該位置后流程， 只要切換到探針顯微鏡合作， 就能夠正確接近觀察對象。因此上高質量， 只需1次SPM掃描就能獲取目標影像一站式服務， 從而能夠提高工作效率并降低微懸臂的損耗。
使用探針顯微鏡開始觀察之前引領作用， 可以在向?qū)М嬅嫔显O置所需的條件， 如安裝微懸臂臺上與臺下、掃描范圍等用的舒心。所以經(jīng)驗較少的操作者也能安心完成操作。
OLS4500采用了裝在電動物鏡轉(zhuǎn)換器上的物鏡型SPM測頭。同軸互動講、共焦配置了物鏡和微懸臂前端穩定性，所以切換SPM觀察時不會丟失觀察目標點。不僅如此過程中，新開發(fā)的小型SPM測頭提高了剛性去突破，所以與傳統(tǒng)產(chǎn)品相比，減少了影像瑕疵并提高了可追蹤性達到。
使用向?qū)Чδ埽?可以觀察時進一步放大探針顯微鏡拍到的影像的所需部分倍率。只要在影像上用鼠標指針設置放大范圍并掃描蓬勃發展， 就可以獲取所需的SPM影像特點》e極回應？梢宰杂稍O置掃描范圍， 所以大幅度提高了觀察和測量的效率又進了一步。
向?qū)Чδ茉?0μm×10μm影像上放大3.5μm×3.5μm范圍
OLS4500能夠根據(jù)您的測量目的分析在各種測量模式中獲取的影像，并以CSV格式輸出測量結果貢獻力量。OLS4500有以下分析功能重要的作用。
控制微懸臂與樣品之間作用的排斥力為恒定的同時溝通協調， 使微懸臂進行靜態(tài)掃描要素配置改革， 在影像中呈現(xiàn)樣品的高度。還可以進行彎曲測量保障性。
使微懸臂在共振頻率附近振動帶動產業發展， 并控制Z方向的距離使振幅恒定， 從而在影像中呈現(xiàn)樣品高度十分落實。特別適用于高分子化合物之類表面柔軟的樣品及有粘性的樣品倍增效應。
在動態(tài)模式的掃描中， 檢測出微懸臂振動的相位延遲製造業灮詹呗?？梢栽谟跋裰谐尸F(xiàn)樣品表面的物性差。
對樣品施加偏置電壓發展基礎，檢測出微懸臂與樣品之間的電流并輸出影像兩個角度入手。此外，還可以進行I/V測量同期。
使用導電性微懸臂并施加交流電壓長期間， 檢測出微懸臂與樣品表面之間作用的靜電， 從而在影像中呈現(xiàn)樣品表面的電位現場。也稱作KFM（Kelvin Force Microscope）高端化。
在相位模式中使用磁化后的微懸臂進行掃描， 檢測出振動的微懸臂的相位延遲精準調控， 從而在影像中呈現(xiàn)樣品表面的磁力信息功能。也稱作MFM（Magnetic Force Microscope）。
采用了有著高N.A. 的專用物鏡和專用光學系統(tǒng)（能限度發(fā)揮405 nm 激光性能）結構，LEXT OLS4500 可以精確地測量一直以來無法測量的有尖銳角的樣品。
由于采用405 nm的短波長激光和更高數(shù)值孔徑的物鏡規模最大， OLS4500達到了0.12 μm的平面分辨率。因此統籌， 可以對樣品的表面進行亞微米的測量最深厚的底氣。結合高精度的光柵讀取能力和奧林巴斯的亮度檢測技術， OLS4500可以分辨出亞微米到數(shù)百微米范圍內(nèi)的高度差振奮起來。此外品質， 激光顯微鏡測量還保證了測量儀器的兩大指標——“正確性”（測量值與真正值的接近程度）和“重復性”（多次測量值的偏差程度）的性能。
高倍率影像容易使視場范圍變小等地，而通過設置最為顯著，OLS4500的拼接功能最多可以拼接625幅影像，從而能夠獲得高分辨率的大范圍視圖數(shù)據(jù)規定。不僅如此環境，還可以在該大范圍視圖上進行3D顯示或3D測量。
近年來相對簡便， 工業(yè)產(chǎn)品越來越趨于小型化和輕量化， 所以構成產(chǎn)品的各種部件也越來越精細化流程。隨著這些部件的精細化合作， 除了形狀測量以外， 表面粗糙度測量的重要性也日益提高助力各業。
為了應對這些市場需求極致用戶體驗， ISO規(guī)定的立體表面結構測量儀器中， 添加了激光顯微鏡和AFM（ISO 25178-6）。因此適應性強， 與傳統(tǒng)的接觸式表面粗糙度測量相同技術交流， 非接觸式表面粗糙度測量也被認定為評價標準。OLS4500中配置了符合ISO規(guī)定的粗糙度參數(shù)拓展。
在非接觸式表面粗糙度測量中創造更多， 除了線粗糙度還可以測量面粗糙度。在面粗糙度測量中可以掌握樣品表面上區(qū)域內(nèi)粗糙度分布和特點不斷進步， 并能夠與3D影像對照評價工藝技術。OLS4500可以根據(jù)不同樣品和使用目的， 分別使用激光顯微鏡功能或探針顯微鏡功能測量表面粗糙度規模。
OLS4500具有與接觸式表面粗糙度測量儀相同的表面輪廓參數(shù)近年來，因此具有相互兼容的操作性和測量結果。
OLS4500具有符合ISO25178的粗糙度（3D）參數(shù)非常完善。通過評估平面區(qū)域性能穩定，可以進行高可靠性的分析。
光學顯微鏡是從樣品上方照射可見光（波長約400 nm到800 nm）情況正常， 利用其反射光成像， 能夠放大樣品數(shù)十倍到一千倍左右進行觀察技術特點。光學顯微鏡的特長是可以真實觀察彩色樣品提高鍛煉， 還可以切換觀察方法， 強調(diào)樣品表面的凹凸凝聚力量， 利用物質(zhì)的特性（偏光性）進行觀察有所提升。OLS4500上可以使用下述觀察方法。
光學顯微鏡的平面分辨率很大程度上取決于所用光的光子和波長全面展示，采用短波長的激光掃描顯微鏡（LSM）比采用可見光的傳統(tǒng)顯微鏡重要平臺，擁
有更高的平面分辨率。
LEXT OLS4500采用405 nm的短波長半導體激光核心技術、高數(shù)值孔徑的專用物鏡應用提升、以及的共焦光學系統(tǒng)，可以達到0.12 μm的平面分辨率創造性。此外發展的關鍵，OLS4500配有奧林巴斯的掃描加掃描型2D掃描儀，可以實現(xiàn)高達4096×4096像素的高精度XY掃描性能。
激光顯微鏡采用短波長半導體激光和的雙共焦光學系統(tǒng)多種方式， 會刪除未聚焦區(qū)域的信號對外開放， 只將聚焦范圍內(nèi)的反射光檢測為同一高度。同時結合高精度的光柵讀取能力邁出了重要的一步， 可以生成高畫質(zhì)的影像有序推進， 實現(xiàn)精確的3D測量。
探針顯微鏡（SPM）是通過機械式地用探針在樣品表面移動需求，檢測出探針與樣品之間產(chǎn)生的力、電的相互作用組合運用，同時進行掃描更讓我明白了，從而得到樣品影像。探針曲率半徑為10 nm左右積極。典型的探針顯微鏡是原子力顯微鏡（AFM）探索，它通過檢測探針和樣品表面之間作用的引力和張力進行掃描并獲得影像。探針顯微鏡能夠觀察納米級微觀形貌產業，可以捕捉到樣品精細的一面滿意度。
OLS4500上采用了光杠桿法——通過高靈敏度檢測出最前端裝有探針的微懸臂的微小彎曲量（位移）來進行觀測的方法。在懸臂的背面反射激光可持續，并用壓電元件驅(qū)動Z軸主要抓手，使激光照射到光電檢測器的位置，從而正確讀取Z方向的微小位移構建。
探針顯微鏡擁有多種觀察模式創新科技，可以觀察、測量樣品表面的形狀共創輝煌，還可以進行物性分析具有重要意義。OLS4500配有以下模式。
探針位于長度約100μm～200μm的薄片狀微懸臂的前端解決方案。您可以根據(jù)樣品選擇不同的彈簧常數(shù)優勢、共振頻率。反復掃描會磨損探針幅度， 所以請根據(jù)需要定期更換微懸臂探針共同。
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