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商品描述離面掠入射光譜儀涉及用于極紫外及真空紫外波長，~8到125nm（10到150eV）
離面掠入射光譜儀涉及用于極紫外及真空紫外波長作用，~8 到 125nm（10 到 150eV）相互配合。 它是一種具有點對點成像的單色儀，特別適合高次諧波產(chǎn)生的實驗高質量，如光電子發(fā)射光譜學相對簡便、泵浦探測 ARPES實驗等。 掠入射離面光學系統(tǒng)效率高流程，時間展寬小，成像好勃勃生機，使用通用的衍射光柵深刻變革。 這種單色儀非常適合高諧波激光和其他固定源（點、LPP和諧共生、同步加速器）的實驗質生產力。
點對點成像
高通光量
掃描/CCD探測
離面掠入射光譜儀涉及用于極紫外及真空紫外波長，~8 到 125nm（10 到 150eV）技術交流。 它是一種具有點對點成像的單色儀先進的解決方案，特別適合高次諧波產(chǎn)生的實驗，如光電子發(fā)射光譜學創造更多、泵浦探測 ARPES實驗等宣講活動。 掠入射離面光學系統(tǒng)效率高，時間展寬小工藝技術，成像好效率，使用通用的衍射光柵規模。 這種單色儀非常適合高諧波激光和其他固定源（點、LPP講道理、同步加速器）的實驗發展目標奮鬥。
OP-XCT PDF Data Sheet
New! from NATURE Communications "Time-resolved XUV ARPES with tunable 24–33 eV laser pulses at 30 meV resolution"
Off-plane EUV spectrograph aids plasma research from LASER FOCUS WORLD
Focal Length | 800 mm (others available when HHG source distances require) |
Acceptance | 8 mrad |
Angle of Incidence | 85 degrees (5 degrees grazing incidence) |
Entrance & Exit Slits> | Continuously variable micrometer actuated width AND height, 0.02 to 6mm |
Grating Mount | 3-position, adjustable in vacuum |
Vacuum Compatible | 10-6 torr (optional metal sealed UHV for 10E-10 torr) |
Gratings | 80 x 30mm substrate |
Wavelength Range | refer to grating of interest for range |
The XCT may be used for scanning applications with an exit slit or array detectors (eg. CCD or microchannel plate intensifiers.)
Grating groove density (g/mm) (others available) | 1800 | 1200 | 600 | 300 |
Resolution (nm, FWHM) | 0.06 | 0.08* | 0.16 | 0.32 |
Grating Range (nm) | 0 to 25 | 0 to 35 | 0 to 75 | 0 to 140 |
1st Order Blaze (nm) | 44 | 27 | 84 | 113 |
19 | 30 | 81 | ||
5 | 14 | |||
3 |
*measured value with 0.05 mm pinhole at entrance
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