• 產(chǎn)品介紹

VIT測試系統(tǒng)外形圖

VIT型VIS-SWIR成像探測器測試系統(tǒng)是一個可擴(kuò)展的用于測試硅成像探測器廣泛應用、黑硅成像探測器以及InGaAs 成像探測器的測試系統(tǒng)關註度，支持成像探測器所有重要參數(shù)的測試。

VIT測試系統(tǒng)是一個模塊化的測試系統(tǒng)哪些領域，由以下五個部分組成：雙圖像投影通道橋梁作用，一組圖像采集卡，及求索，測試軟件和可選的測試原始芯片用的CON控制模塊讓人糾結。雙圖像投影通道是VIT測試系統(tǒng)的核心模塊，包括輻射通道和成像通道穩定發展。

VIT測試系統(tǒng)提供了一組傳統(tǒng)參數(shù)的測量基石之一，這些參數(shù)通常用于表征紅外焦平面/熱成像核心的性能聯動。另外也提供成像傳感器和相機(jī)的EMVA1288標(biāo)準(zhǔn)推薦的性能參數(shù)測試。

一般測試功能：

1. 輻射參數(shù)：相對光譜靈敏度共同努力、比探測率D*行業內卷、量子效率QE、靈敏度逐漸完善、動態(tài)范圍參與能力、線性度、NEI是目前主流、FPN固定圖形噪聲研究、非均勻性、信噪比應用創新、壞像素?cái)?shù)提高、3D噪聲〉奶匦?？梢詼y量16個不同波長下的情況交流。

2. 成像參數(shù)：調(diào)制傳遞函數(shù)MTF、分辨率提供堅實支撐、最小可分辨對比度還不大、串?dāng)_、高光溢出Blooming信息化技術、視場發揮作用。

EMVA1288測試功能：量子效率，增益逐步顯現，時間暗噪聲銘記囑托，DSNU1288，信噪比自動化裝置，PRNU1288示範，LE非線性，靈敏度閾值高質量，飽和容量提供了有力支撐，動態(tài)范圍，暗電流前景，相對光譜靈敏度進一步意見。

• 產(chǎn)品參數(shù)

表1 用于定義VIT測試系統(tǒng)版本的兩位數(shù)編號

表2 產(chǎn)品詳細(xì)參數(shù)