X射線熒光分析的優(yōu)點：
●最少或無需樣品制備
●無損分析
●可測元素范圍廣：Ti22 to U92
●可分析固體和溶液
●分析快速：幾秒內(nèi)得到結果
●定性、半定量和全定量分析
●操作容易，只需要簡單培訓
詳細參數(shù) 請咨詢客服不斷進步！ 利用X射線熒光（XRF）進行鍍層厚度測量和材料分析工藝技術，提高過程和質量控制。X-Strata是結構緊湊規模、堅固耐用近年來、用于質量控制的可靠的臺式X射線熒光分析設備， 提供簡單發展目標奮鬥、快速技術先進、無損的鍍層厚度測量和材料分析。它在工業(yè)領域如電子行業(yè)延伸、五金電鍍行業(yè)認為、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)表現(xiàn)出的分析能力，可進行多鍍層厚度的測量新趨勢。
X-Strata920 – 性價比高反應能力，無損可靠
一款操作簡單的質量控制分析儀，滿足鍍層厚度測量和材料分析數字技術。
新型號設計
快速分析（幾秒）1-4層鍍層厚度
多款規(guī)格製高點項目，例如標準樣品臺、加深樣品臺或自動程控樣品臺範圍和領域，滿足所有樣品類型
開槽式樣品艙可檢測大面積樣品有所增加，例如印制線路板等
符合ISO3487和ASTM B568檢測方法
X-Strata920 - 三種配置滿足您的需要：
固定樣品臺
開槽式樣品艙允許檢測從小部件到大型平板樣品等各種樣品，如印制線路板更高要求。樣品的尺寸可以超出儀器寬度
經(jīng)濟越來越重要的位置、實用
平面樣品臺設計，適合高度不超過1.3"(33mm)的樣品分析
加深樣品臺
高度每英寸(25.4mm)可調共同學習，架構式樣品艙可容納高度6.3"(160mm)的樣品
可以選4個樣品盤中任一個來盛放不同高度的樣品
開槽式樣品艙允許檢測從小部件到大型平板樣品等各種樣品順滑地配合，如印制線路板。樣品的尺寸可以超出儀器寬度
程控樣品臺
用于自動化測量
方便根據(jù)測試位置放置樣品效高，并精準定位測量點
開槽式樣品艙允許檢測大型平板樣品前沿技術，如印制線路板
樣品臺尺寸：22"(D) x 24"(w)，即560mm (深) x 610mm (寬)
