離子研磨儀IM4000Ⅱ是樣品用于掃描電鏡觀察（SEM）和表面分析（EDX設備製造，EBSD等）的前處理工具發展需要。他能無(wú)應(yīng)力的去除樣品表面層，加工出光滑的鏡面管理，且對(duì)于含有硬度不同的復(fù)雜材料同樣簡(jiǎn)單顯示。

特點(diǎn)：

1. 兼容平面和截面兩種加工方式；

2. 加工效率高效率和安，加工速率>500μm/h設計能力；

3. 可加工樣品尺寸大：平面加工Ф50mm×H25mm，截面加工20(W)×12(D)×7(H)mm深入開展；

4. 支持多種擴(kuò)展附件提供有力支撐，例如真空轉(zhuǎn)移盒、冷凍樣品臺(tái)建議；

5. 操作便捷品率，采用觸摸屏控制，高精度光鏡頂位不斷發展。