SGWX-4B顯微熔點(diǎn)儀特點(diǎn)：測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)

SGWX-4B顯微熔點(diǎn)儀

特點(diǎn)：

測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)進一步完善。主要用于藥物集聚、化工、紡織調整推進、染料狀況、香料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定，顯微鏡觀察機製。既可用毛細(xì)管法測(cè)定全過程，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺(tái)法）測(cè)定。

主要技術(shù)參數(shù)：

熔點(diǎn)測(cè)量范圍：室溫至320℃

測(cè)量重復(fù)性：±1℃（在＜200℃時(shí)）

±2℃（在20.0℃ 一320℃時(shí)）

X-4

X-4A

X-4B

溫度顯示最小值

1℃

0.1℃

0.1℃

熔點(diǎn)觀察方式

單目顯微鏡

單目顯微鏡

雙目體視顯微鏡

光學(xué)放大倍數(shù)

40×

40×

40×-100×連續(xù)變倍