XDSIOPA近紅外光譜分析儀是為取代常規(guī)試驗效高性、縮短產(chǎn)品滯留時間模式，極小化實驗室分析時間而設(shè)計的

       XDS IOPA 近紅外光譜分析儀是為取代常規(guī)試驗、縮短產(chǎn)品滯留時間提升，極小化實驗室分析時間而設(shè)計的高品質。XDS IOPA 近紅外光譜分析儀可用于實驗室反應(yīng)監(jiān)測，并作為中試過程應(yīng)用的補充方案支撐能力。XDS IOPA 近紅外光譜分析儀配有兩種探頭：反射探頭和浸入探頭資源優勢。反射探頭適用于掃描固體、高度分散的液體和漿液特征更加明顯。浸入探頭分析水狀產(chǎn)品估算、透明液體和溶劑。XDS IOP 分析儀的光纖式設(shè)計允許其在苛刻危險的取樣環(huán)境中直接使用的可能性。
       XDS NIR 技術(shù)不僅帶來了*的分析性能不要畏懼，同時加快了了定標方法的研發(fā)，縮短了實施時間問題，保證了定標的無縫轉(zhuǎn)移逐漸顯現。使用*、界面友好系統穩定性、具有聯(lián)網(wǎng)能力的 Vision®軟件可以輕松實現(xiàn)鑒定拓展基地、定性和定量等方法集中展示。按下一個按鍵或單擊鼠標就能完成準確的分析。

特點：

• XDS NIR 技術(shù)確保使用簡單和定標的無縫轉(zhuǎn)移
• 快速斷開式探頭體系流動性，優(yōu)化了固體和液體的測量
• 無需樣品制備宣講手段，無需試劑，無任何廢棄物
• 面向集中數(shù)據(jù)庫管理的網(wǎng)絡(luò)分析儀
• 熱插拔模塊 — 幾分鐘內(nèi)即可完成更換積極拓展新的領域，不會影響性能