集成電路引線彎曲試驗(yàn)儀主要用于測(cè)定集成電路產(chǎn)品就此掀開、IC芯片長足發展、電子元器件及設(shè)備物理性能試驗(yàn)中引線涂覆層附著力檢測(cè)以及引腳在拉力、彎曲穩步前行、扭轉(zhuǎn)三種作用力下的形變狀態(tài)結構不合理。

儀器概述：

集成電路引線彎曲試驗(yàn)儀滿足GJB 128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 、GJB 548A-1996 微電子器件試驗(yàn)方法和程序逐步改善、GJB 548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序意見征詢、GJB 360A-1996 電子及電氣元件試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)制造；主要用于測(cè)定集成電路產(chǎn)品大大提高、IC芯片的必然要求、電子元器件及設(shè)備物理性能試驗(yàn)中引線涂覆層附著力檢測(cè)以及引腳在拉力、彎曲取得了一定進展、扭轉(zhuǎn)三種作用力下的形變狀態(tài)完善好。

集成電路引線彎曲試驗(yàn)儀性能指標(biāo)：

1.拉力試驗(yàn)：手動(dòng)垂直加載砝碼；

2.拉力加載時(shí)間：0～999s內(nèi)連續(xù)可調(diào)積極參與；

3.彎曲試驗(yàn)：每次對(duì)一根引線彎曲問題分析；

4.彎曲角度：0～90°可調(diào)，精度：±2°技術；

5.動(dòng)作周期：1s～10s/次（彎曲角度：30°推廣開來、45°、90°時(shí)）相對較高，精度：±3%資源配置；

6.彎曲次數(shù)：1～999次；精度：±1次；

7.扭轉(zhuǎn)：可連續(xù)扭轉(zhuǎn)180°大力發展；精度：±2°豐富內涵；

8.加載砝碼：0.5N、1N 建言直達、1.25N 多種、2.5N、5.0N充分發揮、10N發展成就、20N、40N八個(gè)重要方式；精度：± 1％開展面對面；（可據(jù)用戶要求定制，操作方法以常用砝碼說明）非常重要；

9.動(dòng)力源：步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng);

10.控制器：PLC智能程序控制;

11.顯示和操作:7寸彩色觸摸屏

12.試驗(yàn)工位：單工位測(cè)試進一步提升；

13.通訊接口：RS232通訊；

14.其他功能：具備斷電記憶（部分參數(shù)）營造一處，出錯(cuò)/結(jié)束報(bào)警等人性化功能改革創新；

15.外形尺寸：約580L*350W*680H(mm);

16.設(shè)備電源：220V±10%，50/60Hz±2Hz.取得顯著成效。