一、儀器特點(diǎn)：
1.泰勒-霍普森非接觸式輪廓儀CCI MP是一種高級(jí)的測(cè)量干涉儀（非接觸式3D輪廓儀）應用提升。 它采用享有的新型關(guān)聯(lián)算法主動性，來(lái)查找由我們的精密光學(xué)掃描裝置產(chǎn)生的干涉圖的相干峰和相位。
2.CCI MP對(duì)于很多需要進(jìn)行高精度3D輪廓分析的應(yīng)用非常有用發展的關鍵。 轉(zhuǎn)臺(tái)上可以同步裝配各種各樣的標(biāo)的物道路，因而可測(cè)量多種類(lèi)型的表面。 全自動(dòng)的工作臺(tái)和自動(dòng)測(cè)量程序進(jìn)一步增強(qiáng)了測(cè)量的靈活性真諦所在。
3.泰勒-霍普森非接觸式輪廓儀CCI MP具有功能多指導、用途廣的優(yōu)點(diǎn)。 反射率為0.3%至*的拋光表面充分、粗糙表面進一步完善、曲面、平面或臺(tái)階面，都能使用一種算法進(jìn)行測(cè)量調整推進，不需要為不同的表面改變模式狀況，也不用擔(dān)心會(huì)選擇錯(cuò)誤的 模式。 可測(cè)量的材料類(lèi)型包括： 玻璃建強保護、液體墨水同期、光刻膠、金屬使命責任、聚合物和糊劑效果。
二、儀器技術(shù)參數(shù)：
1.1048 x 1048像素陣列合規意識，視場(chǎng)廣密度增加，高分辨率
2.經(jīng)過(guò)改良的新型X、Y創新內容、Z拼接機遇與挑戰，量程多達(dá)100毫米
3.RMS重復(fù)精度<0.2埃，階躍高度重復(fù)精度<0.1%
4.全量程埃級(jí)分辨率
5.多語(yǔ)言版本的Windows 7善於監督，64位軟件
三集成技術、CCI光學(xué)裝置：
無(wú)論對(duì)分析速度的要求有多高，創(chuàng)新的CCI光學(xué)裝置非接觸式光學(xué)輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測(cè)量結(jié)果進一步。 高分辨率相機(jī)與1/10埃垂直分辨率相結(jié)合大部分，無(wú)論是測(cè)量非常粗糙的表面，還是測(cè)量極其光滑的表面實際需求，都能獲得令人不可思議的詳細(xì)分析解決方案。
CCI光學(xué)裝置與光學(xué)研究人員和科學(xué)家的專(zhuān)業(yè)知識(shí)保持與時(shí)俱進(jìn)，能滿足光學(xué)領(lǐng)域的嚴(yán)苛測(cè)量要求善謀新篇。 CCI光學(xué)裝置將強(qiáng)大的尺寸及粗糙度分析軟件與的工程設(shè)計(jì)融于一體增產，是一種非常適合用于粗糙度測(cè)量的檢驗(yàn)工具。 CCI*的薄膜厚度測(cè)量功能方法，進(jìn)一步完善了為光學(xué)工業(yè)而設(shè)計(jì)的出色計(jì)量包裝 行動力。
1.2048 x 2048像素陣列，視場(chǎng)廣切實把製度，高分辨率
2.全量程0.1埃的分辨率
3.輕松測(cè)量反射率為0.3% - *的各種表面
4.RMS重復(fù)精度<0.2埃統籌，階躍高度重復(fù)精度<0.1%
5.多語(yǔ)言版本的64位控制和分析軟件
