布魯克的NPflex 大樣品計(jì)量檢測光學(xué)輪廓儀為精密制造業(yè)帶來的檢測性能足夠的實力，實(shí)現(xiàn)更快的試產(chǎn)擴(kuò)量時(shí)間緊迫性，提高了產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)力「m合；诎坠馇娴脑砀咝?，這套非接觸系統(tǒng)提供了諸多先進(jìn)的優(yōu)點(diǎn)，遠(yuǎn)超通常接觸式坐標(biāo)測量儀（CMM）和工業(yè)級(jí)探針式輪廓儀的測量技術(shù)所能提供的要素配置改革。這些測量優(yōu)勢包括高分辨的三維圖像體系，進(jìn)行快速豐富的數(shù)據(jù)采集，幫助用戶更深入地了解部件的性能和功能帶動產業發展。
NPflex 大樣品計(jì)量檢測光學(xué)輪廓儀
針對(duì)大樣品設(shè)計(jì)的非接觸測試分析系統(tǒng)
（1）靈活測量大尺寸樣品責任製，滿足高難度測量角度的測量
（2）高效的三維表面信息測量
（3）垂直方向納米分辨率提供更多的細(xì)節(jié)
（4）快速獲取測量數(shù)據(jù)，測試過程迅速高效
布魯克的NPpuExXM3D表面測量系統(tǒng)為精密制造業(yè)帶來的檢測性能邁出了重要的一步，實(shí)現(xiàn)更快的試產(chǎn)擴(kuò)量時(shí)間有序推進，提高了產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)力⌒枨?；诎坠馇娴脑韴远ú灰?，這套非接觸系統(tǒng)提供了諸多先進(jìn)的優(yōu)點(diǎn)，遠(yuǎn)超通常接觸式坐標(biāo)測量儀(CMM)和工業(yè)級(jí)探針式輪廓儀的測量技術(shù)所能提供的。這些測量優(yōu)勢包括高分辨的三維圖像指導，進(jìn)行快速豐富的數(shù)據(jù)采集競爭力，幫助用戶更深入地了解部件的性能和功能充分。積累幾十年的干涉技術(shù)和大樣品測量儀器設(shè)計(jì)的經(jīng)驗(yàn)進一步完善，NPruExM可以靈活地測量大尺寸樣品的光學(xué)測量系統(tǒng)，而且能夠高效快捷地獲得從微觀到宏觀等不同方面的樣品信息競爭力。
NPflex 大樣品計(jì)量檢測光學(xué)輪廓儀其靈活性表現(xiàn)在可用于測量表征更大的面型和更難測的角度
（1）創(chuàng)新性的空間 設(shè)計(jì)使得可測零件(樣品)更大(高達(dá)330毫米)調整推進、形狀更多
（2）開放式龍門、定制的夾具和可選的旋轉(zhuǎn)測量頭可輕松測量待測部位
高效的三維表面信息測量
（1）每次測量均可獲取整個(gè)表面高度信息機製性梗阻，用于各種分析
（2）更容易獲得更多的測量數(shù)據(jù)來幫助分析
垂直方向納米分辨率提供更多的細(xì)節(jié)
（1）干涉技術(shù)實(shí)現(xiàn)每一個(gè)測量象素點(diǎn)上的亞納米級(jí)別垂直分辨率
（2）工業(yè)界使用多年業(yè)已驗(yàn)證的干涉技術(shù)提供具有統(tǒng)計(jì)意義的數(shù)據(jù)機製，為日漸苛刻的加工工藝提
供保障
測量數(shù)據(jù)的快速獲取保證了測試的迅速和高效
（1）少的樣品準(zhǔn)備時(shí)間和測量準(zhǔn)備時(shí)間
（2）比接觸法測量(一條線)更大的視場(一個(gè)面)獲得表面更多的數(shù)據(jù)
技術(shù)參數(shù)
