低噪聲，高動態(tài)范圍

系統(tǒng)動態(tài)范圍是VNA一個(gè)非常重要的指標(biāo)適應性，它是VNA源的最大輸出功率與測試端口本底噪聲的差值堅實基礎。SNA5000X的動態(tài)范圍可達(dá)125 dB@10Hz IFBW，接收機(jī)噪底-125 dBm/Hz重要作用，可適用于對動態(tài)范圍要求比較高的測試場景等地，比如同時(shí)測量濾波器的通帶和帶外抑制性能。

從S參數(shù)測試到平衡-不平衡測試

SNA5000X系列支持在多個(gè)窗口添加多條跡線進(jìn)行全4端口S參數(shù)測試尤為突出，并且具備多種顯示格式規定，比如 Log Mag，Lin Mag空間載體，Phase高質量，Delay，Smith經驗分享，SWR解決方案，Polar等趨勢，可以方便快捷地分析被測物的傳輸系數(shù)有力扭轉，反射系數(shù)，駐波比一站式服務，阻抗匹配廣度和深度，相位，延時(shí)等參數(shù)引領作用。在生產(chǎn)線驗(yàn)證天線加強宣傳，濾波器等的特性時(shí)，還可以保存參考跡線或者添加Limit模板進(jìn)行通過失敗測試建設，有利于提高生產(chǎn)效率在此基礎上。

SNA5000X系列還支持端口阻抗變換功能助力各行，比如在測試有源差分放大器時(shí)，可將輸入輸出端口進(jìn)行阻抗變換自主研發，從而進(jìn)行差分（平衡）測量（比如Scc確定性，Sdd，Scd損耗，Sdc等參數(shù)）講故事。 此功能還可應(yīng)用于差分線纜等其他差分類測試。

時(shí)域分析功能

SNA5000X系列支持TDR時(shí)域反射計(jì)測量功能性能穩定，可在時(shí)域?qū)鬏斁€的特征阻抗全面革新，時(shí)延等參數(shù)進(jìn)行分析

眼圖分析

SNA5000X搭載了眼圖功能，眼圖可以反映信號鏈路上傳輸?shù)臄?shù)字信號的整體特征情況正常，從中觀察出碼間串?dāng)_和噪聲的影響行業分類，進(jìn)而估計(jì)系統(tǒng)的優(yōu)劣程度。眼圖分析是高速系統(tǒng)信號完整性分析的核心提高鍛煉，為需要對高速信號進(jìn)行時(shí)域分析的客戶節(jié)省了大量成本和時(shí)間數據顯示。

消除夾具效應(yīng)

在微波射頻領(lǐng)域，如何有效消除有害的測試夾具效應(yīng)是一大挑戰(zhàn)也逐步提升。比如在對SMD器件進(jìn)行測試時(shí)需要特定的測試夾具實(shí)現(xiàn)測試儀器測試端與器件輸入端的轉(zhuǎn)接記得牢，導(dǎo)致測試結(jié)果中包含了測試夾具的特性。目前SNA5000X系列提供的去除測試夾具影響的方法主要有：端口延伸重要的作用，端口匹配更多可能性，端口阻抗轉(zhuǎn)換，去嵌入足夠的實力，適配器移除等緊迫性。