XX-2型方塊電阻測試儀,是XX型系列四探針方塊電阻測試儀中的新一代產(chǎn)品,是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準而設(shè)計,專門測量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的新型儀器.可用于測量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜)……等同類物質(zhì)的薄層電阻發揮。

XX-2型方塊電阻測試儀(FOUR-POINT PROBE METER)(手持式)



XX-2型方塊電阻測試儀,是XX型系列四探針方塊電阻測試儀中的新一代產(chǎn)品,是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準而設(shè)計,專門測量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的新型儀器.可用于測量一般半導(dǎo)體材料發行速度、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜)……等同類物質(zhì)的薄層電阻。



特點：1與時俱進、采用九十年代推出的大規(guī)模集成電路作為儀器的主要部分性能，測量準確穩(wěn)定。

2綜合運用、以大屏幕LCD顯示讀數(shù)供給，直觀清晰

3、采用單個電池供電實事求是，帶電池欠壓指示

4進行探討、體積≤175mmX92mm X42mm，重量≤300g

5等多個領域、可配臺式探頭和特制之手握式探頭再獲，對應(yīng)可采用臺式和手握式操作，使用簡易

6應用擴展、帶探頭與被測物質(zhì)接觸良好指示(LED)

7體驗區、單電源開關(guān)，推拉式探頭－主機接插件活動上，操作極其簡便有望。



技術(shù)指標

測量范圍：基本量程：方塊電阻 1.00-199.99(/口)

擴展量程: 方塊電阻 10.0-1999.9(/口)

測量不確定度≤5%

探針間距:1mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;絕緣電阻≥500 M

手握式探筆長度:約150mm或90mm;電纜聯(lián)線長度:約1.5M

訂貨信息



貨號 品名 備注 單價(元)

142200 XX-2型方塊電阻測試儀 主機、裝配DNT－1型或DNT－2型探頭(無測試臺) 8260.00/套

142204 DNT-1型四探針探頭 1582.00/只

142206 DNT-2型四探針探頭 1582.00/只

142205 DJ-2型電動測試臺 樣品直徑150mm,有效高度50mm 7960.00