名 稱：透光率測(cè)試儀
型 號(hào)：X3PCST
產(chǎn) 地：上海
X3PCST透光率測(cè)試儀儀器用途：
X3PCST透光率測(cè)試儀（薄膜固體測(cè)試儀）是專為薄膜規模設備、玻璃生產創效、珠寶、紡織集中展示、手機(jī)屏提升、液晶顯示屏等制造行業(yè)設(shè)計(jì)的光譜測(cè)試儀大大提高。該儀器可以對(duì)手機(jī)屏、液晶顯示屏進(jìn)行定波長(zhǎng)測(cè)試和光譜掃描研究成果，是質(zhì)量監(jiān)測(cè)不可少的檢測(cè)工具取得了一定進展。
測(cè)試固體樣品、規(guī)格最小φ1.0mm -500*500mm 厚度：0.01-100mm固體大面積、護(hù)目鏡積極參與、薄膜、啤酒瓶培養、建筑玻璃交流研討、觸屏行業(yè)、紡織形式、珠寶鑒定建設應用、真空鍍膜等支撐作用、單層、多層窗玻璃構(gòu)件動力，光學(xué)性能的測(cè)定等同時。
優(yōu)勢(shì)：固體、薄膜自然條件、玻璃或者亞克力等特薄設計標準、特厚、特大的樣品直接平放測(cè)試互動互補，方便快捷充分發揮、測(cè)試數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。
X3PCST透光率測(cè)試儀儀器產(chǎn)品特點(diǎn)：
1成就、寬大的樣品臺(tái)重要方式，樣品直接擺放在測(cè)試臺(tái)上，任何薄膜夾具都不要系統， 方便快捷非常重要。
2、 設(shè)計(jì)*的光學(xué)系統(tǒng)空間廣闊、高性能全息光柵和接收器確保儀器具有優(yōu)良的性能指標(biāo)營造一處。
3、采用單機(jī)操作知識和技能，線性回歸方程測(cè)量等取得顯著成效。
4、應(yīng)用新的微機(jī)處理技術(shù)使操作更為方便 實現。
5不容忽視、波長(zhǎng)，調(diào)零全自動(dòng)服務體系，波長(zhǎng)最小間隔0.1nm 說服力。
6、配套專業(yè)檢測(cè)軟件分析，透射測(cè)量覆蓋所有功能表示，光譜掃描、時(shí)間掃描非常激烈、DNA專用測(cè)試競爭力所在、多波長(zhǎng)測(cè)試、標(biāo)準(zhǔn)曲線測(cè)試等領域，并且使數(shù)據(jù)儲(chǔ)存達(dá)到無(wú)限溝通機製。
X3PCST透光率測(cè)試儀儀器主要技術(shù)指標(biāo)
1、波長(zhǎng)范圍： 325~1100 nm
2帶來全新智能、波長(zhǎng)精度： ±0.3nm
3實現了超越、波長(zhǎng)重復(fù)性： ≤0.3 nm
4、光譜帶寬： 0.5新型儲能、1創新能力、2、4nm
5範圍、測(cè)量范圍： 0-125%T, -0.097-2.700A, 0-1999C
6求得平衡、透射比準(zhǔn)確度： ±0.3%T
7、透射比重復(fù)性： ≤0.2%T
8空間廣闊、雜散光： ≤0.02%T(340至關重要、420nm)
9、基線直線性：±0.002A
10服務品質、樣品規(guī)格：最小φ1.0mm-500*500mm的發生， 厚度：0.01-100mm最大可測(cè)片： 500mm x500mm
