產(chǎn)品名稱：電弱點(diǎn)測(cè)試儀
產(chǎn)品型號(hào)：HCRD-300
品牌：北京華測(cè)
一、電弱點(diǎn)測(cè)試儀產(chǎn)品介紹：
HCRD-300型電弱點(diǎn)測(cè)試儀采用計(jì)算機(jī)控制不同需求，進(jìn)而達(dá)到人機(jī)對(duì)話的方式發展，是根據(jù)IEC 60674-2:2009 電氣用塑料薄膜 第2部分：試驗(yàn)方法及其第1次修正（2001）和 GB/T13542-92《電氣用塑料薄膜試驗(yàn)方法》而設(shè)計(jì)的高壓試驗(yàn)裝置。主要用于電容器用聚脂薄膜總之、聚丙稀薄膜的電弱點(diǎn)測(cè)試面向。
二、電弱點(diǎn)測(cè)試儀性能特點(diǎn)：
電弱點(diǎn)測(cè)試儀系列產(chǎn)品的主要特點(diǎn)是能根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測(cè)試研學體驗，測(cè)試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定建設項目，無須將膜分切成小卷，免除了許多外來因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響落實落細。測(cè)試數(shù)據(jù)能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水平相結合。該系列產(chǎn)品的主要元器件均選用進(jìn)口品牌（如歐姆龍，美信製高點項目，ABB等）為產業發展，有效地保證了設(shè)備的可靠性、耐用性和穩(wěn)定性認為。測(cè)量準(zhǔn)確服務好，復(fù)現(xiàn)性好。測(cè)試過程采用電子技術(shù)全自動(dòng)控制反應能力，遇到電弱點(diǎn)時(shí)電壓切斷動(dòng)作迅速共謀發展。擊穿電流在0～40mA連續(xù)可調(diào)，復(fù)現(xiàn)性好結構重塑。本機(jī)具備多重保護(hù)功能聽得懂，充分考慮了操作人員及設(shè)備的性。如過壓高質量發展、過流全方位、接地保護(hù)，試驗(yàn)平臺(tái)門開啟保護(hù)影響力範圍。
三大局、電弱點(diǎn)測(cè)試儀產(chǎn)品用途
據(jù)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)《GB/T 13541-92電氣用塑料薄膜試驗(yàn)方法》，電氣用塑料薄膜要求進(jìn)行電弱點(diǎn)測(cè)試邁出了重要的一步，在給定直流電壓下每平方米的擊穿點(diǎn)（電弱點(diǎn)）數(shù)成為衡量薄膜成量的重要指標(biāo)有序推進。電氣用塑料薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀，無須將膜卷分切成小卷需求，根據(jù)薄膜的使用寬度直接進(jìn)行電弱點(diǎn)測(cè)試配套設備。由于薄膜在生過程中極易引起縱向劃傷，該儀器引用“電 弱線”概念相對開放，即在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)檢測(cè)到的試樣漏電 流均超過1mA時(shí)推進高水平，認(rèn)定為該薄膜試樣在生產(chǎn)過 程中存在縱向劃痕脫穎而出，從而產(chǎn)生“電弱線”，測(cè)試儀統(tǒng)計(jì)的電弱點(diǎn)總數(shù)為電弱點(diǎn)數(shù)與電弱線數(shù)之和生產創效，這 樣的測(cè)試數(shù)據(jù)史能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)顯水平結構， 且有助于分析生產(chǎn)過程中存在的問題，從而有針對(duì)地提出解決問題的方案橫向協同。
四哪些領域、電弱點(diǎn)測(cè)試儀產(chǎn)品參數(shù)
應(yīng)用領(lǐng)域
弱電檢測(cè)儀器/電弱點(diǎn)測(cè)試儀器
弱電檢測(cè)儀器/電弱點(diǎn)測(cè)試儀器
