熒光光譜儀XRF樣品膜 TF-475 Kapton膜
適用于各種品牌X熒光光譜儀XRF：
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一、美國Premier XRF樣品膜：

美國Premier Lab Supply公司專注于X射線光譜分析XRF的樣品制備領(lǐng)域紮實做，以高質(zhì)量和全面的X射線的樣品制備產(chǎn)品線享譽(yù)空間廣闊。

美國Premier X-ray樣品膜(X-ray Film）以其極低的（幾乎不含）雜質(zhì)和厚度均勻而嚴(yán)格生產(chǎn)，好的柔韌性和抗化學(xué)腐蝕性提供深度撮合服務，保證檢測(cè)結(jié)果的可靠性和重現(xiàn)性服務品質，被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測(cè)過程組成部分，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF影響、ED-XRF）。

X-ray Film能用于固體的過程中、液體指導、粉末、顆粒國際要求、土壤等樣品XRF檢測(cè)流動性，適用于RoHS&WEEE檢測(cè)、油品成份分析競爭激烈、金屬成份分析等持續創新。

二改善、Premier 樣品膜特點(diǎn)：

  有卷狀和片狀，多種規(guī)格喜愛、尺寸重要的角色、數(shù)量可供選擇；

  柔韌性強(qiáng)向好態勢、方便平臺建設、耐用；

  X-ray射線穿透性貢獻力量，適合各類XRF光譜儀使用；

 抗化學(xué)腐蝕性能，不溶于有機(jī)溶劑發行速度，不污染待測(cè)樣品更加堅強；

  （幾乎不含）痕量雜質(zhì)，特別適合于輕質(zhì)元素的*檢測(cè)性能。

三初步建立、適用于各種品牌X熒光光譜儀XRF：

日本島津shimadzu、牛津儀器Oxford供給、斯派克Spectro的方法、布魯克Bruker、日本精工SII進行探討、日本電子JEOL持續、日本理學(xué)Rigaku、日本堀場(chǎng)Horiba再獲、熱電Thermo產品和服務、帕納科Panalytical、尼通Niton體驗區、伊諾斯Innox-X增多、天瑞Skyray、Jordan Valley有望、ARL進一步推進、。

CAT. NO 薄膜材料       厚度       長度       數(shù)量       描述

熒光光譜儀XRF樣品膜 TF-475 Kapton膜

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