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集成電路hast高壓老化試驗箱壹叁伍 叁捌肆陸 玖零柒陸又稱為高壓加速老化試驗機(jī)，試驗的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓問題、負(fù)荷等)逐漸顯現，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間緊密相關。半導(dǎo)體的測試:主要是測試半導(dǎo)體封裝之抗?jié)駳饽芰Ω趿?，待測品被放置嚴(yán)苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測試，如果半導(dǎo)體封裝的不好培訓，濕氣會沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體之中不合理波動，常見的故裝原因：爆米花效應(yīng)、動金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦分匾ぞ?、封裝體引腳間因污染造成之短路等相關(guān)問題積極拓展新的領域。
hast高壓老化試驗箱針對JESD22-A102的試驗說明：
用來評價非氣密封裝器件在水汽凝結(jié)或飽和水汽環(huán)境下抵御水汽的完整性。樣品在高壓下處于凝結(jié)的、高濕度環(huán)境中相對開放，以使水汽進(jìn)入封裝體內(nèi)推進高水平，暴露出封裝中的弱點，如分層和金屬化層的腐蝕拓展應用。該試驗用來評價新的封裝結(jié)構(gòu)或封裝體中材料生產創效、設(shè)計的更新。 應(yīng)該注意管理，在該試驗中會出現(xiàn)一些與實際應(yīng)用情況不符的內(nèi)部或外部失效機(jī)制優化上下。由于吸收的水汽會降低大多數(shù)聚合物材料的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度，當(dāng)溫度高于玻璃化轉(zhuǎn)變溫度時模樣，可能會出現(xiàn)非真實的失效模式生產體系。
外引腳錫短路：封裝體外引腳因濕氣引起之電離效應(yīng)，會造成離子遷移不正常生長很重要，而導(dǎo)致引腳之間發(fā)生短路現(xiàn)象能力和水平。 濕氣造成封裝體內(nèi)部腐蝕：濕氣經(jīng)過封裝過程所造成的裂傷，將外部的離子污染帶到芯片表面廣泛認同，在經(jīng)過經(jīng)過表面的缺陷如：護(hù)層針孔國際要求、裂傷、被覆不良處鍛造、行業內卷、等，進(jìn)入半導(dǎo)體原件里面逐漸完善，造成腐蝕以及漏電流、合理需求、等問題是目前主流，如果有施加偏壓的話故障更容易發(fā)生。
hast高壓老化試驗箱滿足標(biāo)準(zhǔn)：
1高質量、IEC60068-2-66
2充分發揮、JESD22-A102-B
3、EIAJED4701
4管理、EIA/JESD22
5設計、GB/T2423、40-1997
集成電路hast高壓老化試驗箱技術(shù)優(yōu)勢：
1．采用全自動補(bǔ)充水位之功能,試驗不中斷改進措施。
2．試驗過程的溫度就此掀開、濕度、壓力今年，是讀取相關(guān)傳感器的讀值來顯示的穩步前行，而不是通過溫濕度的飽和蒸汽壓表計算出來的，能夠掌握實際的試驗過程。
3．干燥設(shè)計逐步改善，試驗終止采用電熱干燥設(shè)計確保測試區(qū)(待測品)的干燥意見征詢，確保穩(wěn)定性。
4．準(zhǔn)確的壓力/溫度對照顯示大大提高，*符合溫濕度壓力對照表要求的必然要求。
艾思荔的主營產(chǎn)品有:高壓加速老化試驗機(jī)，HAST高度加速壽命試驗機(jī)取得了一定進展，可程式恒溫恒濕試驗箱完善好、高低溫?zé)釢裨囼炏洹⒉饺胧胶銣睾銤裨囼炇铱赡苄愿?、高低溫試驗箱部署安排、快速溫變高低溫試驗機(jī)、冷熱沖擊試驗箱共享應用、溫度沖擊箱生產能力、鹽霧試驗機(jī)、鹽干濕復(fù)合鹽霧試驗機(jī)示範推廣、老化試驗箱堅持好、高溫干燥箱、高溫烤箱大幅增加、UV紫外線耐氣候試驗機(jī)特性、真空烤箱等可靠性環(huán)境試驗設(shè)備以及制程設(shè)備，有數(shù)十個系列近百種產(chǎn)品等特點。
