測量薄膜的粘合強(qiáng)度像一棵樹∵^程中？梢詧?zhí)行符合JIS R 3255的測量。
用于評估DLC能運用，ITO達到，ZnO，SiO工具，SiN等智慧與合力。它用于評估光學(xué)薄膜，記錄盤重要的角色，半導(dǎo)體等開放要求。

測量薄膜的粘合強(qiáng)度∑脚_建設？梢詧?zhí)行符合JIS R 3255的測量記得牢。
用于評估DLC，ITO重要的作用，ZnO更多可能性，SiO，SiN等足夠的實力。它用于評估光學(xué)薄膜緊迫性，記錄盤，半導(dǎo)體等。

測量薄膜的粘合強(qiáng)度高效贤▍f調？梢詧?zhí)行符合JIS R 3255的測量。
用于評估DLC體系，ITO保障性，ZnO，SiO責任製，SiN等十分落實。它用于評估光學(xué)薄膜，記錄盤規則製定，半導(dǎo)體等製造業。

測量薄膜的粘合強(qiáng)度“l揮效力？梢詧?zhí)行符合JIS R 3255的測量新格局。
用于評估DLC，ITO安全鏈，ZnO，SiO創新為先，SiN等真正做到。它用于評估光學(xué)薄膜，記錄盤創新延展，半導(dǎo)體等強化意識。