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自動(dòng)特性圖示儀

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  • 公司名稱(chēng) 香港電子器材有限公司
  • 品牌
  • 型號(hào)
  • 所在地
  • 廠商性質(zhì) 其他
  • 更新時(shí)間 2021/3/2 20:32:04
  • 訪問(wèn)次數(shù) 286

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Robson Technologies Inc.

RTI的自動(dòng)曲動(dòng)追蹤系統(tǒng)是半導(dǎo)體行業(yè)的供應(yīng)商新的動力。 MultiTrace的客戶(hù)多是芯片制造商的過程中,封裝測(cè)試代工廠及廣為人知的私人測(cè)試實(shí)驗(yàn)室。

曲線追蹤(Curve tracing)”是用于尋找IC芯片中被電損壞的引腳的方法廣泛關註。MultiTrace的產(chǎn)品提供廣泛的一系列解決方案過程中,可以使用powered curve trace 測(cè)試小型芯片的開(kāi)路/短路和使用Latch-up方式來(lái)測(cè)試非常復(fù)雜的多電路的芯片。


什么是Curve Tracing?
"Curve tracing" 625引腳能運用。 它有各種尺寸可供選擇達到,以滿(mǎn)足泛用戶(hù)的需求。
 




RTI's MultiTrace 625 引腳 PGA Fixture RTI's MultiTrace 自動(dòng) DC Parametric 測(cè)試系統(tǒng) StdTrace 軟件追蹤報(bào)告

StdTrace 軟件報(bào)告 大量參考資料 測(cè)試排列軟件

MultiTrace 的應(yīng)用:

  • 無(wú)源曲線追蹤器 (Unpowered Curve Tracing):
    檢測(cè)開(kāi)路不可缺少,短路和漏電
  • 有源曲線追蹤器 (Powered Curve Tracing):
    檢測(cè)漏電流蓬勃發展,供電電流問(wèn)題。 測(cè)大量有用的參數(shù)
  • 電源電流測(cè)(Supply Current Measurements):
    兩種方法來(lái)測(cè)量電流供應(yīng) 積極回應。
    A 6-Bus 系統(tǒng)可同時(shí)對(duì)3組電源測(cè)量
  • Latch Up 測(cè)試: (選配)
    根據(jù)JESD 78 特征, 找出 Latch-Up 敏感度 .

 

基礎(chǔ) Curve Tracing 的應(yīng)用:

  • Input-Output 轉(zhuǎn)換功能:
    將輸入電壓接到引腳上重要性,測(cè)量輸出引腳電平變化.
  • 對(duì)晶體管做曲線分析:
    檢測(cè)任何型號(hào)的晶體
  • 顯微鏡:
    使用顯微鏡定位原件的損傷部位.
  • IDDQ 測(cè)試:
    測(cè)量芯片每個(gè)狀態(tài)的電流輸入
  • 功能性引導(dǎo)能力:
    Change Input Pin States According to an Input File Then Measure What you Need. Ability to Measure Output States Allows for Gross Functional Testing
    根據(jù)所輸入信息改變輸入 Pin的狀態(tài),然后進(jìn)行量測(cè)平臺建設。測(cè)量輸出區(qū)功能測(cè)試狀態(tài)服務機製。
  • Kelvin 4-Wire 阻力測(cè)試:
    使用這種特的應(yīng)用軟件來(lái)控制開(kāi)關(guān)矩陣和收集的數(shù)據(jù),實(shí)現(xiàn)精密電阻測(cè)量使用。

RTI's MegaTrace 自動(dòng)直流參數(shù)曲線

MegaTrace648引腳開(kāi)始一直到2160的引腳大幅拓展,因此其有足夠的能力來(lái)測(cè)試幾乎任何芯片機(jī)器集成化較高更加堅強,機(jī)臺(tái)很容易動(dòng)與時俱進,也可以與其他儀器如顯微鏡,探針臺(tái)初步建立,以及其他遠(yuǎn)程測(cè)試機(jī)器一起使用綜合運用。


 


曲線追蹤功能

  • Unpowered 曲線追蹤 (連續(xù)測(cè)試)

  • Powered 曲線追蹤

  • Supply Current Characterization (Idd 測(cè)試)

  • 6條總線系統(tǒng)的2VDD 及 3 VDD 湔試

其它測(cè)量及測(cè)試功能

  • Latch-Up 測(cè)試

  • 功能性預(yù)處理

  • 任何的±15V 一& ±1A直流測(cè)量



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