掃描電鏡能譜檢測標樣X-Checker

X-Checker檢測標樣是個并且保有全系列標準物質質生產力，可以應用于監(jiān)測SEM/EDS系統(tǒng)性能適應性強。若想在較短時間內檢測手頭儀器的的性能，請選擇X-Checker先進的解決方案。

.錳的峰的半峰寬分辨率測量

.鋁和銅的光譜校準

.碳用于光譜低值校準窗口探測器

.高拓展、低放大倍率的兩種鎳柵格（用于校準圖像處理軟件和放大倍率）

.兩種柵格用于校準圖像處理軟件和放大倍率，檢測探測器窗口是否有真空油的污染

.氮化硼檢測光譜低能量端的性能

.氟源檢測光譜低能量端的分辨率

.鈹（Be）柵格檢測高效探測器低能量端的靈敏度

規(guī)格：

測量誤差：±5％宣講活動。

樣品臺基底：鋁不斷進步。

尺寸：

周長：1"或25.4 cm；高：7.5 mm）

鎳載網(wǎng)孔徑規(guī)格：40 μm x 40 μm效率、18 μm x 18 μm

產(chǎn)品信息：