MAGNA新一代超高分辨場發(fā)射掃描電鏡

產品簡介：

TESCAN MAGNA是一款功能極其強大的分析儀器，適用于納米材料的形貌表征以及微觀分析重要意義。MAGNA配置 Triglav™ 型 SEM 鏡筒統籌發展，具有超高的分辨率，在低電壓下尤為明顯體系；鏡筒內探測器系統(tǒng)具有電子信號過濾能力生產製造，可以獲得更好的圖像襯度和表面靈敏度，非常適用于不導電樣品的成像攜手共進，如陶瓷共同、無涂層生物樣品，以及在半導體光敏樣品等大部分。

產品特點

• *的實時電子束追蹤技術(In-flight Beam Tracing™)功能，可設置優(yōu)化束斑尺寸和束流強度實際需求。
• *的TriBE^TM和TriSE^TM In-Beam探測器系統(tǒng)解決方案，實現(xiàn)更*的納米尺度表征。
• TESCAN Essence™便利的電鏡操作軟件善謀新篇。
• 可以配置TESCAN自有或第三方的多種擴展分析附件增產，如EDS、EBSD方法、CL行動力、Raman聯(lián)用。