美國MAS品牌 Zeta-APS納米粒徑分析儀

原理: 結(jié)合超聲波衰減與電動(dòng)聲波振福技術(shù)設計能力，有效量測粒徑分部與界達(dá)電位品牌。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

1)能分析多種分散物的混合體；

2)無需依賴Double Layer模式更為一致，精確地判定等電點(diǎn)等形式；

3)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系；

4)可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾研究與應用；

5)可精確測量無水體系飛躍；

6)Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術(shù)，無需先測量粒度即可進(jìn)行電位測量全面協議；

7)樣品的濃度可達(dá)60%(體積比)重要部署，被測樣品無需稀釋，對濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測量工具；

8)具有自動(dòng)電位滴定功能的過程中；

技術(shù)參數(shù)：

1)所檢測粒徑范圍寬：從5 nm至1000um；

2)可測量參數(shù)：粒度分布廣泛關註、固含量促進進步、Zeta電位、等電點(diǎn)IEP優勢領先、E5A達到、電導(dǎo)率智能設備、PH、溫度蓬勃發展、聲衰減特點；

3)Zeta電位測量范圍：+/-200 mv，低表面電荷(可低至0. 1mv)重要性，高精度(±0.1mv);

4)零表面電荷條件下也可測量粒徑又進了一步；

5)允許樣品濃度：0.1-60%(體積百分?jǐn)?shù))；

6)樣品體積：30-230ml多元化服務體系；

7)PH范圍：0~14;

8)電導(dǎo)率范圍：0~10 s/m

優(yōu)于光學(xué)方法的技術(shù)優(yōu)勢：

1)被測樣品無需稀釋規劃；

2)排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾；

3)不需定標(biāo)深度；

4)能分析多種分散物的混合體帶動擴大；

5)高精度；

6)所檢側(cè)粒徑范圍款從5 nm至1000um

優(yōu)于electroactics方法的技術(shù)優(yōu)勢：

1)無需定標(biāo)開拓創新；

2)能測更寬的粒徑范圍持續發展；

3)無需依賴Double Layer模式

4)無需依賴( electric surface properties)電表面特牲；

5)零表面電荷條件下也可測量粒徑促進善治；

6)可適用于無水體系擴大；

7)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系；

優(yōu)于微電泳方法的技術(shù)優(yōu)勢：

1)無需稀釋發揮效力，固合量高達(dá)60%進行探討；

2)可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾；

3)高精度(±0.1mv)服務水平；

4)低表面電荷(可低至0. 1mv)最新；

5)electrosmotic flow不影響測量；

6)對流(convection)不影響測量處理方法；

7)可精確測量無水體系重要作用；

典型應(yīng)用：

綜合穩(wěn)定水泥漿，陶瓷習慣，化學(xué)機(jī)械研磨充足，煤漿，涂料的積極性，化妝品綠色化發展，環(huán)境保護(hù)禪選法礦物富集，食品工業(yè)使命責任，乳膠效果，微乳，混合分散體系合規意識，納米粉密度增加，無水體系有效性，油漆成像材料。