SOC710CR高光譜文物成像系統(tǒng)具有*的內(nèi)置推掃技術先進技術、雙CCD可預覽、一鍵式測量等特點不合理波動，可提供實驗室暗箱宣講手段、實驗室平臺及顯微測量等多種操作模式。后期光譜提取與特征提取等技術可上滿足用戶的需求積極拓展新的領域，在文物保護配套設備、修復、真?zhèn)巫R別等方面具有重要作用相對開放。

SOC710CR高光譜文物成像系統(tǒng)

目前文物鑒定的傳統(tǒng)方法中很多是有損或微損的推進高水平，需取樣才能分析；而且拓展應用，有損測試的分析結果只局限于測試點或取樣點生產創效，而不能*代表未測試部位的信息。高光譜成像技術能同時提供待測物整體的圖像和光譜信息管理，可以對目標物進行高光譜識別和分類；其具有快速測量、能進行精細分類與識別等優(yōu)點戰略布局，且對文物無損傷事關全面，在文物分析領域具有廣闊的應用前景。

SOC710CR高光譜文物成像系統(tǒng)具有*的內(nèi)置推掃技術狀態、雙CCD可預覽技術節能、一鍵式測量等特點，可提供實驗室暗箱廣泛認同、實驗室平臺及顯微測量等多種操作模式國際要求。后期光譜提取與特征提取等技術可上滿足用戶的需求，在文物保護共同努力、修復、真?zhèn)巫R別等方面具有重要作用追求卓越。

※ 快速無損獲取高光譜圖像信息，數(shù)據(jù)真實可靠

※ 雙CCD設計是目前主流，直接預覽測量區(qū)域充分發揮，所見即所得

※ 內(nèi)置式掃描，圖像無畸變充分發揮，自動扣除暗電流

※ 不僅可獲取目標反射率選擇適用，還可獲取輻亮度值

※ 可自動連續(xù)測量，監(jiān)測目標光譜動態(tài)變化

※ 軟件自帶數(shù)據(jù)標定設計、高光譜分類等多種功能

※ 軟件實時分析業務指導，光譜提取、光譜分類與結果輸出

※ 可滿足暗箱系統(tǒng)-室內(nèi)實驗臺-顯微鏡等多種使用條件

SOC710CR高光譜文物成像系統(tǒng)應用案例：

產(chǎn)地：美國