基于 ZEISS METROTOM 的工業(yè)計算機斷層掃描（CT）

利用蔡司的工業(yè)計算機斷層掃描系統(tǒng)效高，僅需一次X射線掃描，即可順利完成工件的測量和檢驗基礎。標(biāo)準(zhǔn)的驗收檢測性能、精密工程和完善的校準(zhǔn)程序可確保系統(tǒng)的追蹤性拓展基地。配備線性導(dǎo)軌及轉(zhuǎn)臺，滿足客戶對精度的高要求實力增強。

測量與檢驗整體部件

ZEISS METROTOM是一種用于測量和檢驗塑料或輕金屬部件的工業(yè)計算機斷層掃描測量系統(tǒng)體系流動性。而在利用傳統(tǒng)測量機測量時，此類隱藏性的結(jié)構(gòu)信息只有將零件通過費時的層層破壞方能獲得帶來全新智能。

輕松且精準(zhǔn)地進行多樣化特征檢測

利用ZEISS METROTOM計算機斷層掃描系統(tǒng)可一次掃描海量的零部件特征實現了超越。這些測量結(jié)果非常精準(zhǔn)，且具可追溯性去完善。和接觸式測量方法不同橋梁作用，ZEISS METROTOM 獲取海量測量點時，時間顯著縮短求索。

直觀簡易的軟件操作

僅需通過短時間的ZEISS METROTOM OS軟件培訓(xùn)課程讓人糾結，操作人員即可對零件進行掃描，透視零件的內(nèi)部穩定發展。利用ZEISS CALYPSO可評估CT數(shù)據(jù)基石之一，再利用ZEISS PiWeb即可快速地將兩者融合于同一份測量報告中。